基于自相关测量方法的光电导开关设计与信号模拟分析
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-16页 |
| ·课题研究的背景 | 第7页 |
| ·常用超快电信号测量方法和课题的提出 | 第7-12页 |
| ·光电导开关的发展历史 | 第12-13页 |
| ·光电导开关的主要应用领域 | 第13-14页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 AFM针尖诱导氧化加工的研究 | 第16-30页 |
| ·AFM阳极诱导氧化加工的机理 | 第17-18页 |
| ·AFM阳极诱导氧化技术的影响因素 | 第18-20页 |
| ·钛膜的加工和表征 | 第20-22页 |
| ·特定条件下加工的氧化钛线的宽度和直线度分析 | 第22-24页 |
| ·氧化钛线的电学特性 | 第24页 |
| ·氧化钛线物质成分的确定 | 第24-25页 |
| ·氧化钛线的加工系统 | 第25-29页 |
| ·本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 光电导开关工作原理和版图设计 | 第30-40页 |
| ·光电导开关的基本工作原理 | 第30-31页 |
| ·光电导开关特性的影响因素 | 第31-32页 |
| ·光电导开关的两种工作模式 | 第32-33页 |
| ·光电导开关材料的选择 | 第33-34页 |
| ·传统光电导开关基本结构存在的问题及解决方法 | 第34-35页 |
| ·超高速光电导开关的传输线结构 | 第35-37页 |
| ·超高速光电导开关的版图设计 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 光电导开关的自相关测量系统 | 第40-52页 |
| ·光电导采样简介 | 第40-41页 |
| ·超短光脉冲自相关测量方法 | 第41-42页 |
| ·光学强度自相关测量原理 | 第42-43页 |
| ·超短光脉冲宽度的确定 | 第43-44页 |
| ·光电导开关的自相关测量原理 | 第44-45页 |
| ·光电导开关自相关测试系统 | 第45-50页 |
| ·实验设计 | 第50页 |
| ·自相关测量系统性能分析 | 第50-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第五章 超高速光电导开关输出特性的理论计算 | 第52-62页 |
| ·光电导开关的理论模型 | 第52-55页 |
| ·超快光电导开关产生电信号的模拟 | 第55-57页 |
| ·超快线性光电导开关的频谱分析 | 第57-59页 |
| ·超快光电导开关采样电信号模拟 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 第六章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-69页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
