基于Markov随机场的纹理综合方法研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 前言 | 第7-13页 |
| ·概述 | 第7-10页 |
| ·纹理的定义 | 第7-9页 |
| ·纹理和图像的区别 | 第9页 |
| ·什么是纹理综合 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状及分析 | 第10-11页 |
| ·本研究的任务及创新点 | 第11-13页 |
| 第二章 纹理综合模型 | 第13-21页 |
| ·纹理的结构模型 | 第13-15页 |
| ·纹理的统计模型 | 第15-19页 |
| ·基于分形和分数维模型 | 第16页 |
| ·Markov 随机场模型 | 第16-18页 |
| ·基于滤波器模型 | 第18-19页 |
| ·本章小节 | 第19-21页 |
| 第三章 基于像素的纹理综合方法 | 第21-37页 |
| ·金字塔算法 | 第21-23页 |
| ·直方图匹配 | 第23-25页 |
| ·因果域匹配法 | 第25-31页 |
| ·Markov 随机场 | 第26页 |
| ·邻域的选择 | 第26-27页 |
| ·邻域设置的统计学分析 | 第27-28页 |
| ·邻域的选择算法 | 第28-31页 |
| ·基于MRF 模型的因果邻域纹理综合方法 | 第31-35页 |
| ·基本算法 | 第31-32页 |
| ·实验结果及分析 | 第32-35页 |
| ·本章小节 | 第35-37页 |
| 第四章 基于块的纹理综合方法 | 第37-51页 |
| ·Andrew Nealen 提出的方法 | 第37-45页 |
| ·寻找最佳像素块 | 第39-41页 |
| ·自适应块采样 | 第41-43页 |
| ·重叠误差和像素无效 | 第43页 |
| ·像素横断图 | 第43-44页 |
| ·复合和重叠区域再综合 | 第44-45页 |
| ·因果邻域纹理综合方法 | 第45-50页 |
| ·算法描述 | 第45-47页 |
| ·边缘处理 | 第47页 |
| ·实验结果及分析 | 第47-50页 |
| ·本章小节 | 第50-51页 |
| 第五章 纹理综合的应用 | 第51-57页 |
| ·纹理代替 | 第51-53页 |
| ·纹理修复 | 第53-54页 |
| ·错误隐藏 | 第54-57页 |
| 第六章 结束语 | 第57-59页 |
| ·工作总结 | 第57-58页 |
| ·进一步研究工作的展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65页 |
