| 中文摘要 | 第1-7页 |
| 英文摘要 | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-22页 |
| §1.1 概述x射线成像的发展 | 第11-13页 |
| §1.2 x射线相位衬度的主要方法简介 | 第13-21页 |
| §1.2.1 X射线干涉全息法相位衬度成像 | 第13-15页 |
| §1.2.2 基于光学分析元件的X射线相衬成像 | 第15-17页 |
| §1.2.3 基于波带片的相位衬度显微成像方法 | 第17-18页 |
| §1.2.4 基于X射线自由传播的相位衬度成像方法 | 第18-19页 |
| §1.2.5 基于相于光照明条件的相位衬度成像方法 | 第19-21页 |
| §1.3 本文的研究内容 | 第21-22页 |
| 第二章 基于光学分析元件的X射线相位衬度成像 | 第22-44页 |
| §2.1 衍射增强相位衬度成像 | 第22-33页 |
| §2.1.1 衍射增强相衬成像方法的理论基础 | 第22-24页 |
| §2.1.2 北京同步辐射4W1A光束线衍射增强相衬成像实验装置 | 第24-26页 |
| §2.1.3 衍射增强成像中定量恢复波阵面的实验方案与相关算法 | 第26-29页 |
| §2.1.4 衍射增强方法在几个方面的应用 | 第29-33页 |
| §2.2 光栅剪切X射线相衬成像 | 第33-42页 |
| §2.2.1 光栅剪切相衬成像的实验装置和理论基础 | 第34-38页 |
| §2.2.2 针对光栅剪切相衬成像的定量波阵面恢复算法 | 第38-42页 |
| §2.3 本章小结 | 第42-44页 |
| 第三章 相干光照明条件下的相位衬度成像 | 第44-61页 |
| §3.1 相干衍射成像 | 第44-47页 |
| §3.2 相干光照明下的衍射增强相衬成像系统 | 第47-52页 |
| §3.3 相干光照明下的结构照明成像系统 | 第52-60页 |
| §3.4 结论 | 第60-61页 |
| 第四章 X射线相位衬度成像与CT断层技术的结合 | 第61-90页 |
| §4.1 CT断层重建技术的发展历史 | 第61-65页 |
| §4.2 CT断层重建技术的基本原理与算法 | 第65-71页 |
| §4.2.1 投影和反投影 | 第65-67页 |
| §4.2.2 卷积(滤波)反投影和傅立叶变换重建算法 | 第67-69页 |
| §4.2.3 迭代CT重建算法 | 第69-71页 |
| §4.3 针对X射线衍射增强相位衬度成像方法的CT重建技术 | 第71-79页 |
| §4.3.1 X射线衍射增强相位衬度成像数据的特点 | 第72-73页 |
| §4.3.2 适用于X射线衍射增强相位衬度成像数据的解析CT断层重建算法 | 第73-76页 |
| §4.3.3 适用于X射线衍射增强相位衬度成像数据的迭代CT断层重建算法 | 第76-79页 |
| §4.4 迭代相衬CT在X射线显微成像装置中的应用 | 第79-89页 |
| §4.5 结论 | 第89-90页 |
| 第五章 总结与展望 | 第90-92页 |
| 参考文献 | 第92-99页 |
| 攻读博士期间发表的论文目录 | 第99-101页 |
| 致谢 | 第101页 |
