数字化镁合金微弧氧化电源可靠性研究
| 中文摘要 | 第1-9页 |
| 英文摘要 | 第9-11页 |
| 插图索引 | 第11-13页 |
| 附表索引 | 第13-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-20页 |
| ·微弧氧化技术 | 第14-16页 |
| ·微弧氧化技术简介 | 第14-15页 |
| ·微弧氧化的基本原理 | 第15-16页 |
| ·课题背景 | 第16-18页 |
| ·微弧氧化技术发展现状 | 第16-17页 |
| ·微弧氧化电源发展现状 | 第17-18页 |
| ·课题意义 | 第18-20页 |
| 第2章 微弧氧化电源主电路可靠性分析 | 第20-34页 |
| ·微弧氧化电源介绍 | 第20-21页 |
| ·变压器可靠性分析 | 第21-23页 |
| ·变压器接法 | 第21-22页 |
| ·变压器磁芯的选择 | 第22页 |
| ·电压比及绕组匝数 | 第22-23页 |
| ·整流电路可靠性分析 | 第23-27页 |
| ·同步电路的选择 | 第23-25页 |
| ·整流晶闸管的选择 | 第25-26页 |
| ·滤波电容的选择 | 第26-27页 |
| ·斩波电路的可靠性分析 | 第27-33页 |
| ·斩波电路基本原理 | 第27-28页 |
| ·斩波电路的可靠性分析 | 第28-30页 |
| ·IGBT的并联 | 第30-32页 |
| ·额定电压的确定 | 第32页 |
| ·额定电流I_C | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 IGBT驱动电路的可靠性 | 第34-52页 |
| ·IGBT的结构和工作原理 | 第34-35页 |
| ·IGBT的结构 | 第34页 |
| ·IGBT的工作原理 | 第34-35页 |
| ·IGBT对驱动电路的要求 | 第35-38页 |
| ·正偏压V_(GS)的影响 | 第35-36页 |
| ·负偏电压-V_(GS)的影响 | 第36-37页 |
| ·门极电阻R_G的影响 | 第37页 |
| ·IGBT对驱动电路的要求 | 第37-38页 |
| ·常用IGBT驱动电路可靠性分析 | 第38-51页 |
| ·M57959L驱动电路的可靠性分析 | 第38-42页 |
| ·EXB841驱动电路的可靠性分析 | 第42-46页 |
| ·2SD315A驱动模块的可靠性分析 | 第46-51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 第4章 IGBT保护电路的可靠性分析 | 第52-61页 |
| ·IGBT擎住效应及安全工作区 | 第52-53页 |
| ·擎住效应 | 第52-53页 |
| ·IGBT安全工作区 | 第53页 |
| ·IGBT的失效 | 第53-54页 |
| ·IGBT的保护机制 | 第54-55页 |
| ·IGBT保护电路电路的可靠性分析 | 第55-60页 |
| ·过电流保护的可靠性分析 | 第55-56页 |
| ·过电压及dv/dt抑制电路的可靠性分析 | 第56-59页 |
| ·过热保护的可靠性分析 | 第59-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 微弧氧化电源可靠性检测 | 第61-65页 |
| ·设备测试 | 第61-62页 |
| ·驱动电路检测 | 第61页 |
| ·过流过热测试 | 第61页 |
| ·联机检测 | 第61-62页 |
| ·检测结果 | 第62页 |
| ·工艺实验 | 第62-64页 |
| ·试验材料的准备 | 第62-63页 |
| ·电源模式对微弧氧化膜层形貌的影响 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 附录A(攻读硕士学位期间发表的学术论文目录) | 第70页 |
