| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 文献综述 | 第10-24页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·重金属的来源与危害 | 第11-13页 |
| ·环境中重金属的来源 | 第11-12页 |
| ·涂料中重金属的来源 | 第12页 |
| ·重金属的危害 | 第12-13页 |
| ·涂料中重金属测定方法概述 | 第13-19页 |
| ·重金属分析测定技术 | 第13-18页 |
| ·分光光度法 | 第14页 |
| ·原子吸收光谱法 | 第14-16页 |
| ·原子发射光谱法 | 第16-17页 |
| ·ICP-MS 法 | 第17页 |
| ·原子荧光光谱法 | 第17-18页 |
| ·氢化物发生法（HG） | 第18页 |
| ·样品前处理 | 第18-19页 |
| ·灰化法 | 第18页 |
| ·湿法消化 | 第18-19页 |
| ·微波消解法 | 第19页 |
| ·X 射线荧光光谱法 | 第19-23页 |
| ·发展历史 | 第19-20页 |
| ·基本原理 | 第20-21页 |
| ·X 射线光谱法的特点 | 第21-22页 |
| ·X 射线光谱法的应用 | 第22-23页 |
| ·本课题研究的目的和意义 | 第23-24页 |
| 第二章 电感耦合等离子体原子发射光谱法 | 第24-31页 |
| ·实验部分 | 第24-26页 |
| ·仪器与化学试剂 | 第24-25页 |
| ·仪器 | 第24页 |
| ·化学试剂 | 第24-25页 |
| ·仪器工作条件 | 第25页 |
| ·混合标准溶液的配制 | 第25页 |
| ·样品处理 | 第25-26页 |
| ·涂膜制备 | 第25页 |
| ·样品微波消解 | 第25-26页 |
| ·样品测定 | 第26页 |
| ·结果与讨论 | 第26-29页 |
| ·校准曲线 | 第26-29页 |
| ·检出限 | 第29页 |
| ·准确度和精密度试验 | 第29页 |
| ·小结 | 第29-31页 |
| 第三章 波长色散X 射线荧光光谱法测定涂料中有害重金属的总量 | 第31-65页 |
| ·实验部分 | 第31-34页 |
| ·仪器与化学试剂 | 第31-32页 |
| ·仪器 | 第31页 |
| ·化学试剂 | 第31-32页 |
| ·仪器工作条件 | 第32页 |
| ·样品制备 | 第32页 |
| ·标准样品的制备 | 第32-33页 |
| ·配制原理 | 第32页 |
| ·配制前的准备 | 第32-33页 |
| ·标准样品的配制 | 第33页 |
| ·分析过程 | 第33-34页 |
| ·测定标准样品中Pb、Cr、Se、Co 的X 射线荧光强度 | 第33-34页 |
| ·测定样品中的Pb、Cr、Se、Co 含量 | 第34页 |
| ·结果与讨论 | 第34-58页 |
| ·自制标样 | 第34-50页 |
| ·自制标样均匀性检验 | 第34-44页 |
| ·自制标样稳定性检验 | 第44-50页 |
| ·仪器条件的优化 | 第50-51页 |
| ·X 光管的高压和电流的选择 | 第50-51页 |
| ·测定时间的选择 | 第51页 |
| ·线性关系 | 第51-53页 |
| ·样品制备条件的选择 | 第53-58页 |
| ·样品厚度 | 第53-54页 |
| ·样品粒度 | 第54-56页 |
| ·制样压力 | 第56-57页 |
| ·保压时间 | 第57-58页 |
| ·测定方法的评价 | 第58-63页 |
| ·回收率 | 第58-60页 |
| ·精密度 | 第60-62页 |
| ·长期稳定性 | 第62页 |
| ·检出限 | 第62-63页 |
| ·小结 | 第63-65页 |
| 第四章 ICP-AES 与 XRF 两种方法的比较 | 第65-71页 |
| ·样品前处理 | 第65页 |
| ·校准曲线和仪器检出限 | 第65-66页 |
| ·准确度和精密度 | 第66页 |
| ·结果比较 | 第66-70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 结论与展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 个人简历 | 第80页 |
| 发表的学术论文 | 第80页 |
