基于混合遗传算法的SOC测试集成优化方法研究
| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-12页 |
| ·课题的研究背景 | 第6-7页 |
| ·国内外研究现状 | 第7-10页 |
| ·国外研究现状及发展趋势 | 第7-9页 |
| ·国内研究现状及发展趋势 | 第9-10页 |
| ·本文的研究内容及章节安排 | 第10-12页 |
| ·研究的内容 | 第10页 |
| ·论文章节安排 | 第10-12页 |
| 第二章 SOC 测试的相关理论 | 第12-20页 |
| ·测试包封wrapper | 第13-16页 |
| ·IEEE P1500 标准测试包封 | 第13-15页 |
| ·测试环包封化原理 | 第15-16页 |
| ·测试访问机制TAM | 第16-18页 |
| ·基于测试总线的 TAM | 第16-17页 |
| ·TAM 优化原理 | 第17-18页 |
| ·测试调度 | 第18页 |
| ·小结 | 第18-20页 |
| 第三章 二维装箱问题与遗传算法 | 第20-29页 |
| ·二维装箱问题 | 第20-21页 |
| ·遗传算法 | 第21-24页 |
| ·遗传算法的描述 | 第21-23页 |
| ·遗传算法的特点 | 第23-24页 |
| ·二维装箱问题的混合遗传算法 | 第24-27页 |
| ·启发式递归策略 | 第25-26页 |
| ·改进的启发式递归策略 | 第26-27页 |
| ·GA+IHR 算法 | 第27页 |
| ·小结 | 第27-29页 |
| 第四章 SOC 测试集成优化模型的设计 | 第29-40页 |
| ·方案综述与可行性分析 | 第29-30页 |
| ·wrapper 的优化 | 第30-32页 |
| ·最佳配合降序启发式算法 | 第30页 |
| ·基于BFD 算法的wrapper 优化设计 | 第30-32页 |
| ·基于二维装箱问题的SOC 测试优化模型 | 第32-34页 |
| ·可变宽度的TAM 设计 | 第32-33页 |
| ·SOC 测试问题向二维装箱问题的转化 | 第33-34页 |
| ·基于混合遗传算法的SOC 测试优化模型 | 第34-38页 |
| ·问题解空间到遗传空间的映射 | 第34页 |
| ·适应度函数的设计 | 第34-38页 |
| ·小结 | 第38-40页 |
| 第五章 SOC 测试集成优化方案的实现 | 第40-53页 |
| ·世代进化搜索策略的实现 | 第40-46页 |
| ·世代进化流程结构 | 第40-41页 |
| ·遗传算子的设计 | 第41-46页 |
| ·SOC 测试优化方案设计总流程 | 第46-47页 |
| ·实验仿真 | 第47-52页 |
| ·参数的选择 | 第48-49页 |
| ·仿真结果 | 第49-52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第六章 结束语 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 作者在攻读硕士期间主要研究成果 | 第59页 |
