薄互层AVO特征分析及波形校正方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 前言 | 第9-15页 |
| 1.1 研究目的及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 薄互层地震反射特征研究 | 第10-11页 |
| 1.2.2 薄互层地震波形校正方法研究 | 第11-12页 |
| 1.3 论文研究内容 | 第12-15页 |
| 1.3.1 技术路线 | 第12-13页 |
| 1.3.2 章节内容 | 第13-15页 |
| 第二章 薄互层AVO特征及其影响因素分析 | 第15-46页 |
| 2.1 薄互层地震反射特征研究 | 第15-17页 |
| 2.2 薄互层频率响应特性分析 | 第17-25页 |
| 2.2.1 单一薄层的频率特性 | 第17-20页 |
| 2.2.2 薄互层的频率特性 | 第20-23页 |
| 2.2.3 界面粘滞性对薄互层频率特性的影响 | 第23-25页 |
| 2.3 影响地震法向反射特征的主要因素 | 第25-37页 |
| 2.3.1 厚度的影响 | 第27-30页 |
| 2.3.2 砂泥比的影响 | 第30-34页 |
| 2.3.3 子波的影响 | 第34-37页 |
| 2.4 薄互层结构对AVO响应的影响分析 | 第37-44页 |
| 2.4.1 厚度的影响 | 第37-38页 |
| 2.4.2 互层数的影响 | 第38-42页 |
| 2.4.3 砂泥比的影响 | 第42-44页 |
| 2.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第三章 目标区薄互层模型正演模拟及AVO特征分析 | 第46-71页 |
| 3.1 薄互层模型正演模拟 | 第46-55页 |
| 3.1.1 目标区薄互层模型建立 | 第46页 |
| 3.1.2 薄互层模型正演模拟 | 第46-52页 |
| 3.1.3 基于正演数据的叠前偏移处理 | 第52-55页 |
| 3.2 薄互层偏移剖面特征分析 | 第55-64页 |
| 3.2.1 砂体含量的影响 | 第55-61页 |
| 3.2.2 分频特征分析 | 第61-64页 |
| 3.3 薄互层AVO特征分析 | 第64-69页 |
| 3.3.1 厚度的影响 | 第64-65页 |
| 3.3.2 砂泥比的影响 | 第65-68页 |
| 3.3.3 互层数的影响 | 第68-69页 |
| 3.4 本章小结 | 第69-71页 |
| 第四章 薄互层反射波形校正方法研究 | 第71-86页 |
| 4.1 薄互层反射的波形畸变分析 | 第71-73页 |
| 4.2 波形校正的原理和方法 | 第73-77页 |
| 4.3 模型试算 | 第77-81页 |
| 4.4 实际资料应用分析 | 第81-84页 |
| 4.4.1 数据说明 | 第81-82页 |
| 4.4.2 数据处理分析 | 第82-84页 |
| 4.5 本章小结 | 第84-86页 |
| 研究总结 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 攻读硕士学位期间取得的学术成果 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92页 |
