| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-18页 |
| 1．1 论文研究的意义 | 第9-10页 |
| 1．2 直流输电的优点 | 第10-11页 |
| 1．3 论文国内外研究的现状 | 第11-17页 |
| 1．3．1 绝缘子覆冰的研究 | 第11-16页 |
| 1．3．2 高海拔对绝缘子影响的研究 | 第16-17页 |
| 1．4 论文研究的内容 | 第17-18页 |
| 2 直流电压作用下的绝缘子覆冰闪络特性试验方法 | 第18-24页 |
| 2．1 试品 | 第18-19页 |
| 2．2 试验装置及试验原理 | 第19-20页 |
| 2．2．1 试验装置 | 第19页 |
| 2．2．2 试验电源 | 第19-20页 |
| 2．3 试验方法 | 第20-22页 |
| 2．4 特征量 | 第22-23页 |
| 2．5 小结 | 第23-24页 |
| 3 复杂环境中绝缘子直流放电特性 | 第24-52页 |
| 3．1 绝缘子覆冰闪络极性效应 | 第24-29页 |
| 3．1．1 瓷和玻璃绝缘子覆冰闪络极性效应 | 第24-26页 |
| 3．1．2 瓷和玻璃绝缘子串覆冰闪络极性效应 | 第26-27页 |
| 3．1．3 合成绝缘子覆冰闪络极性效应 | 第27-29页 |
| 3．2 覆冰量对平均闪络电压的影响 | 第29-36页 |
| 3．3 气压对平均闪络电压的影响 | 第36-43页 |
| 3．4 污秽对平均闪络电压的影响 | 第43-51页 |
| 3．5 小结 | 第51-52页 |
| 4 复杂环境中绝缘子直流闪络电压的影响因素及电压校正 | 第52-63页 |
| 4．1 影响覆冰绝缘子闪络的因素 | 第52-55页 |
| 4．1．1 覆冰状态对覆冰表面闪络的影响 | 第52-54页 |
| 4．1．2 低气压弧络对覆冰表面闪络的影响 | 第54-55页 |
| 4．2 复杂环境条件下绝缘子类型的选择 | 第55-59页 |
| 4．2．1 覆冰对不同结构绝缘子闪络电压的影响 | 第55-56页 |
| 4．2．2 气压对不同结构绝缘子闪络电压的影响 | 第56-57页 |
| 4．2．3 温度对合成绝缘子憎水性的影响 | 第57-59页 |
| 4．3 覆冰、低气压和污秽综合作用下直流闪络电压的校正 | 第59-62页 |
| 4．3．1 气压影响的校正 | 第59-61页 |
| 4．3．2 覆冰量影响的校正 | 第61页 |
| 4．3．3 污秽度影响的校正 | 第61-62页 |
| 4．3．4 覆冰、低气压和污秽综合作用下直流闪络电压的校正 | 第62页 |
| 4．4 小结 | 第62-63页 |
| 5 复杂环境中绝缘子直流闪络机理分析 | 第63-70页 |
| 5．1 覆冰绝缘子表面放电过程 | 第63-67页 |
| 5．1．1 正极性电弧的发展 | 第63-65页 |
| 5．1．2 负极性电弧的发展 | 第65-67页 |
| 5．2 内部电弧和外部电弧 | 第67-68页 |
| 5．3 电弧发展的路径 | 第68-69页 |
| 5．4 小结 | 第69-70页 |
| 6 结论 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 附：作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第76页 |
