单晶碳化硅超声—电化学机械抛光仿真与实验研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-17页 |
1.1 课题研究的背景及意义 | 第9-10页 |
1.2 国内外研究现状分析 | 第10-16页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第10-13页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第13-16页 |
1.3 课题主要研究内容 | 第16-17页 |
第2章 碳化硅研抛过程中流场仿真 | 第17-39页 |
2.1 流场仿真模型 | 第17-19页 |
2.2 边界条件及初始条件设置 | 第19-20页 |
2.3 二维仿真结果分析 | 第20-27页 |
2.3.1 振动频率对流场的影响 | 第21-24页 |
2.3.2 超声振幅对流场特性的影响 | 第24-27页 |
2.4 抛光垫对流场特性的影响 | 第27-32页 |
2.4.1 超声频率对流场特性的影响 | 第28-30页 |
2.4.2 超声振幅对流场特性的影响 | 第30-32页 |
2.5 三维流场仿真分析 | 第32-36页 |
2.5.1 三维仿真模型 | 第32-33页 |
2.5.2 结果与分析 | 第33-36页 |
2.6 抛光盘圆平动对流场的影响 | 第36-38页 |
2.7 本章小结 | 第38-39页 |
第3章 碳化硅研抛过程中温度场及电场仿真 | 第39-52页 |
3.1 温度场仿真 | 第39-45页 |
3.1.1 温度场仿真模型 | 第39-40页 |
3.1.2 边界条件及初始条件设置 | 第40-41页 |
3.1.3 结果与分析 | 第41-45页 |
3.2 电场仿真 | 第45-48页 |
3.2.1 电场仿真模型 | 第45页 |
3.2.2 边界条件设置 | 第45页 |
3.2.3 结果与分析 | 第45-48页 |
3.3 电化学传质分析 | 第48-51页 |
3.3.1 电极反应模型 | 第48-50页 |
3.3.2 结果与分析 | 第50-51页 |
3.4 本章小结 | 第51-52页 |
第4章 实验系统设计 | 第52-59页 |
4.1 试验机的原理及改进 | 第52-54页 |
4.1.1 试验机原理 | 第52页 |
4.1.2 试验机改进 | 第52-54页 |
4.2 数据采集系统介绍 | 第54-57页 |
4.2.1 所用设备及程序 | 第54-55页 |
4.2.2 正压力的获取 | 第55-56页 |
4.2.3 摩擦力的获取 | 第56页 |
4.2.4 材料去除率的计算 | 第56-57页 |
4.3 半固定磨粒抛光盘及抛光液的制备 | 第57-58页 |
4.4 本章小结 | 第58-59页 |
第5章 碳化硅研抛试验 | 第59-71页 |
5.1 无辅助条件下的抛光实验 | 第59-63页 |
5.2 电场辅助条件下的研抛实验 | 第63-67页 |
5.3 超声-电化学机械研抛实验 | 第67-69页 |
5.4 摩擦磨损机理分析 | 第69-70页 |
5.5 本章小结 | 第70-71页 |
结论与展望 | 第71-73页 |
参考文献 | 第73-77页 |
附录 :各条件下验试件质量变化记录 | 第77-78页 |
致谢 | 第78-79页 |