| 中文摘要 | 第3-4页 |
| 英文摘要 | 第4页 |
| 1 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-10页 |
| 1.1.1 磁致伸缩效应及磁致伸缩材料 | 第8-9页 |
| 1.1.2 磁弹性传感器 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 国外磁弹性传感器检测装置发展 | 第10-13页 |
| 1.2.2 国内磁弹性传感器检测装置发展 | 第13-14页 |
| 1.3 课题研究意义、目的和主要研究内容 | 第14-16页 |
| 1.3.1 课题研究意义 | 第14-15页 |
| 1.3.2 课题研究目的 | 第15页 |
| 1.3.3 课题主要研究内容 | 第15-16页 |
| 2 磁弹性传感器共振及检测原理 | 第16-24页 |
| 2.1 磁弹性传感器的磁场激励 | 第16-18页 |
| 2.2 磁弹性传感器的共振模型 | 第18-20页 |
| 2.3 磁弹性传感器的检测理论 | 第20-23页 |
| 2.3.1 扫频感应法检测原理 | 第20-22页 |
| 2.3.2 阻抗法检测原理 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-24页 |
| 3 模块化磁弹性检测平台设计方案 | 第24-32页 |
| 3.1 系统功能模块化设计准则 | 第24-25页 |
| 3.2 阻抗法检测装置模块化设计 | 第25-27页 |
| 3.3 扫频感应法检测装置模块化设计 | 第27-28页 |
| 3.4 检测平台整体方案设计 | 第28-29页 |
| 3.5 本章小结 | 第29-32页 |
| 4 模块电路设计与测试 | 第32-66页 |
| 4.1 微控制器与通信模块 | 第32-35页 |
| 4.1.1 MSP430F5529 单片机 | 第32-34页 |
| 4.1.2 RS232 通信模块 | 第34-35页 |
| 4.2 交流信号发生模块 | 第35-43页 |
| 4.2.1 AD9850 工作原理 | 第36-37页 |
| 4.2.2 乘法型DAC的程控实现 | 第37-38页 |
| 4.2.3 放大与滤波设置 | 第38-40页 |
| 4.2.4 交流信号发生模块性能测试 | 第40-43页 |
| 4.3 交流电流源模块 | 第43-46页 |
| 4.3.1 直流偏置电路 | 第43-44页 |
| 4.3.2 交流电压-电流转换电路 | 第44-45页 |
| 4.3.3 交流电流源模块性能测试 | 第45-46页 |
| 4.4 交流电压源模块 | 第46-48页 |
| 4.4.1 输出缓冲级电路 | 第46-47页 |
| 4.4.2 交流电压源模块性能测试 | 第47-48页 |
| 4.5 直流电压源模块 | 第48-52页 |
| 4.5.1 直流电压信号产生 | 第49-50页 |
| 4.5.2 放大扩流电路 | 第50-51页 |
| 4.5.3 直流电压源模块测试 | 第51-52页 |
| 4.6 幅值检波模块 | 第52-57页 |
| 4.6.1 信号调理电路 | 第52-53页 |
| 4.6.2 真有效值转换电路 | 第53-54页 |
| 4.6.3 AD采样电路 | 第54-56页 |
| 4.6.4 幅值检波模块性能测试 | 第56-57页 |
| 4.7 相位检波模块 | 第57-62页 |
| 4.7.1 调理限幅电路 | 第58页 |
| 4.7.2 方波转换电路 | 第58-59页 |
| 4.7.3 低通滤波电路 | 第59-61页 |
| 4.7.4 相位检波模块性能测试 | 第61-62页 |
| 4.8 电源模块 | 第62-64页 |
| 4.9 本章小结 | 第64-66页 |
| 5 模块化磁弹性检测平台实验测试 | 第66-80页 |
| 5.1 阻抗法检测平台的搭建与测试 | 第67-72页 |
| 5.1.1 阻抗法检测平台的搭建 | 第67-68页 |
| 5.1.2 阻抗平台重复性测试 | 第68-70页 |
| 5.1.3 阻抗平台传感器尺寸改变的响应测试 | 第70-71页 |
| 5.1.4 阻抗平台粘度改变的响应测试 | 第71-72页 |
| 5.2 扫频感应法检测平台的搭建与测试 | 第72-75页 |
| 5.2.1 扫频感应法检测平台的搭建 | 第72-73页 |
| 5.2.2 扫频平台重复性测试 | 第73-74页 |
| 5.2.3 扫频平台传感器尺寸改变的响应测试 | 第74-75页 |
| 5.3 无直流扫频感应法检测平台的搭建与测试 | 第75-77页 |
| 5.3.1 无直流扫频感应法检测平台的搭建 | 第75-76页 |
| 5.3.2 无直流扫频平台传感器尺寸改变的响应测试 | 第76-77页 |
| 5.4 本章小结 | 第77-80页 |
| 6 总结与展望 | 第80-82页 |
| 6.1 主要工作总结 | 第80页 |
| 6.2 工作展望 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |