| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 相关技术概述 | 第11-17页 |
| 1.2.1 LIBS技术的研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 LIBS技术对光谱分光系统的要求 | 第13-16页 |
| 1.2.3 中阶梯光谱仪研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 论文研究内容及章节安排 | 第17-18页 |
| 1.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 第二章 中阶梯光谱仪的基础理论 | 第19-37页 |
| 2.1 中阶梯光栅的特性 | 第19-22页 |
| 2.2 中阶梯光谱仪的系统组成 | 第22-28页 |
| 2.2.1 光源系统 | 第23-24页 |
| 2.2.2 准直系统 | 第24-25页 |
| 2.2.3 色散系统 | 第25-27页 |
| 2.2.4 聚焦系统 | 第27页 |
| 2.2.5 检测记录和显示系统 | 第27-28页 |
| 2.3 中阶梯光谱仪原理及特性 | 第28-35页 |
| 2.3.1 中阶梯光谱仪原理 | 第28-30页 |
| 2.3.2 光谱重叠与交叉色散 | 第30-31页 |
| 2.3.3 狭缝像倾斜 | 第31-32页 |
| 2.3.4 中阶梯光谱仪的能量传输效率 | 第32-34页 |
| 2.3.5 中阶梯光谱仪光谱分辨能力 | 第34-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 第三章 中阶梯光谱仪光学设计 | 第37-54页 |
| 3.1 中阶梯光谱仪的光路设计 | 第37-41页 |
| 3.1.1 几种光路结构介绍 | 第37-40页 |
| 3.1.2 Littrow与Czerny-Turner结合光路设计 | 第40-41页 |
| 3.2 元件参数与仪器性能参数关系建立 | 第41-45页 |
| 3.2.1 元件参数与仪器光谱范围关系 | 第41-43页 |
| 3.2.2 元件参数与仪器光谱分辨能力关系 | 第43-44页 |
| 3.2.3 元件尺寸关系 | 第44-45页 |
| 3.3 中阶梯光谱仪设计实例 | 第45-53页 |
| 3.3.1 仪器整体方案设计 | 第45-46页 |
| 3.3.2 仪器元件参数的确定 | 第46-50页 |
| 3.3.3 光学设计结果分析 | 第50-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 中阶梯光谱仪优化设计和成像质量评价 | 第54-71页 |
| 4.1 像差理论 | 第54-56页 |
| 4.2 光学系统的像差分析和矫正 | 第56-63页 |
| 4.2.1 球差的矫正 | 第56-57页 |
| 4.2.2 彗差的矫正 | 第57-61页 |
| 4.2.3 像散的矫正 | 第61-63页 |
| 4.3 中阶梯光谱仪优化设计 | 第63-65页 |
| 4.3.1 优化设计方案 | 第63页 |
| 4.3.2 优化设计结果 | 第63-65页 |
| 4.4 成像质量评价 | 第65-70页 |
| 4.4.1 点列图 | 第65-68页 |
| 4.4.2 像差特性曲线 | 第68-69页 |
| 4.4.3 能量分布曲线 | 第69-70页 |
| 4.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 中阶梯光谱仪样机研制与性能测试 | 第71-78页 |
| 5.1 中阶梯光谱仪样机研制 | 第71-74页 |
| 5.1.1 光学元件固定件设计 | 第71-72页 |
| 5.1.2 样机整体设计 | 第72-74页 |
| 5.2 中阶梯光谱仪样机性能测试 | 第74-77页 |
| 5.2.1 样机测试条件 | 第74-75页 |
| 5.2.2 测试结果 | 第75-77页 |
| 5.3 本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 6.1 全文总结 | 第78-79页 |
| 6.2 工作展望 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-84页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |