摘要 | 第6-8页 |
ABSTRACT | 第8-9页 |
第一章 绪论 | 第10-22页 |
1.1 CO_2的来源、危害及现状 | 第10页 |
1.2 CO_2的资源化利用方法 | 第10-11页 |
1.3 CO_2甲烷化技术 | 第11页 |
1.4 CO_2甲烷化催化剂研究现状 | 第11页 |
1.5 Ni基催化剂 | 第11-18页 |
1.5.1 载体 | 第11-13页 |
1.5.2 Ni负载量 | 第13-15页 |
1.5.3 助剂 | 第15-16页 |
1.5.4 制备方法 | 第16-18页 |
1.6 Co基催化剂 | 第18-20页 |
1.7 其它非贵金属基催化剂 | 第20页 |
1.8 选题依据和主要研究内容 | 第20-22页 |
1.8.1 论文的选题依据 | 第20-21页 |
1.8.2 论文的主要研究内容 | 第21-22页 |
第二章 实验部分 | 第22-26页 |
2.1 实验试剂及仪器 | 第22-23页 |
2.2 催化剂的制备 | 第23-24页 |
2.2.1 介孔SiO_2载体的制备 | 第23页 |
2.2.2 xwt.%Co/KIT-6催化剂制备 | 第23页 |
2.2.3 不同还原温度Co/KIT-6催化剂的制备 | 第23页 |
2.2.4 不同结构介孔Co/SiO_2催化剂的制备 | 第23-24页 |
2.3 催化剂的表征 | 第24-25页 |
2.3.1 透射电子显微镜(TEM) | 第24页 |
2.3.2 比表面积和孔径分布测试(BET) | 第24页 |
2.3.3 H_2-程序升温还原(H_2-TPR) | 第24页 |
2.3.4 X射线衍射(XRD) | 第24页 |
2.3.5 X射线光电子能谱(XPS) | 第24-25页 |
2.3.6 H_2-程序升温脱附(H_2-TPD) | 第25页 |
2.3.7 CO_2-程序升温脱附(CO_2-TPD) | 第25页 |
2.4 催化剂的活性测试 | 第25-26页 |
第三章 Co负载量对Co/KIT-6催化剂性能的影响 | 第26-40页 |
3.1 引言 | 第26页 |
3.2 结果与讨论 | 第26-36页 |
3.2.1 H_2-TPR研究 | 第26-28页 |
3.2.2 XRD表征 | 第28-29页 |
3.2.3 BET表征 | 第29-31页 |
3.2.4 小角XRD表征 | 第31-32页 |
3.2.5 H_2-TPD分析 | 第32-33页 |
3.2.6 CO_2-TPD分析 | 第33-36页 |
3.3 CO_2甲烷化活性评价 | 第36-39页 |
3.4 本章小结 | 第39-40页 |
第四章 还原温度对Co/KIT-6催化剂性能的影响 | 第40-55页 |
4.1 引言 | 第40页 |
4.2 结果与讨论 | 第40-49页 |
4.2.1 TEM分析 | 第40-42页 |
4.2.2 BET表征 | 第42-43页 |
4.2.3 H_2-TPR研究 | 第43-44页 |
4.2.4 XRD表征 | 第44-45页 |
4.2.5 XPS分析 | 第45-47页 |
4.2.6 CO_2-TPD分析 | 第47-49页 |
4.3 CO_2甲烷化活性评价 | 第49-54页 |
4.3.1 还原温度对催化剂性能的影响 | 第49-53页 |
4.3.2 稳定性测试 | 第53-54页 |
4.4 本章小结 | 第54-55页 |
第五章 结构对介孔Co/SiO_2催化剂性能的影响 | 第55-70页 |
5.1 引言 | 第55页 |
5.2 结果与讨论 | 第55-64页 |
5.2.1 TEM分析 | 第55-57页 |
5.2.2 BET表征 | 第57-59页 |
5.2.3 H_2-TPR研究 | 第59-60页 |
5.2.4 XRD表征 | 第60-61页 |
5.2.5 CO_2-TPD分析 | 第61-64页 |
5.3 CO_2甲烷化活性评价 | 第64-68页 |
5.3.1 结构对催化剂性能的影响 | 第64-67页 |
5.3.2 稳定性测试 | 第67-68页 |
5.4 本章小结 | 第68-70页 |
第六章 结论与展望 | 第70-72页 |
6.1 主要结论 | 第70-71页 |
6.2 展望 | 第71-72页 |
参考文献 | 第72-79页 |
致谢 | 第79-80页 |
在学期间发表论文及参加课题情况 | 第80页 |
发表论文 | 第80页 |
参与课题 | 第80页 |