摘要 | 第5-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第16-42页 |
1.1 引言 | 第16-19页 |
1.2 高分辨图像的模拟 | 第19-24页 |
1.2.1 样品势场计算 | 第19-21页 |
1.2.2 弱相位物近似 | 第21页 |
1.2.3 布洛赫波理论 | 第21-22页 |
1.2.4 多片层法 | 第22-24页 |
1.3 透射电镜成像理论 | 第24-30页 |
1.3.1 物镜像差 | 第24-27页 |
1.3.2 弱相位物成像 | 第27-29页 |
1.3.3 部分相干成像理论 | 第29页 |
1.3.4 透射交叉系数成像理论 | 第29-30页 |
1.4 欠焦系列像波函数重构 | 第30-34页 |
1.4.1 维纳滤波法 | 第31页 |
1.4.2 抛物面法 | 第31-32页 |
1.4.3 最大似然法 | 第32页 |
1.4.4 迭代波函数重构法 | 第32-34页 |
1.5 倾转系列像三维重构 | 第34-40页 |
1.5.1 Radon变换 | 第35-36页 |
1.5.2 倾转系列像三维重构的方法 | 第36-40页 |
1.6 论文研究的立题依据和主要内容 | 第40-42页 |
第2章 三种多片层法在低能电子动力学衍射模拟中的适用性研究 | 第42-56页 |
2.1 引言 | 第42-43页 |
2.2 理论推导 | 第43-47页 |
2.2.1 CMS法 | 第44-45页 |
2.2.2 PCMS法 | 第45-46页 |
2.2.3 FCMS法 | 第46-47页 |
2.3 模拟参数 | 第47-49页 |
2.4 模拟结果 | 第49-53页 |
2.5 分析讨论 | 第53-54页 |
2.6 本章小结 | 第54-56页 |
第3章 欠焦系列像中微小电子束倾转的精确测定 | 第56-76页 |
3.1 引言 | 第56-57页 |
3.2 理论推导 | 第57-59页 |
3.3 图像模拟验证 | 第59-62页 |
3.4 实验设备和方案 | 第62-66页 |
3.4.1 实验测量步骤 | 第63页 |
3.4.2 反射斑点相位测量 | 第63-65页 |
3.4.3 测量结果可靠度测试 | 第65-66页 |
3.5 实验结果 | 第66-74页 |
3.5.1 入射电子束相对倾转值的测量 | 第66-67页 |
3.5.2 欠焦步长的测量 | 第67-68页 |
3.5.3 样品漂移校正 | 第68-70页 |
3.5.4 入射电子束倾转值的测量和比较 | 第70-74页 |
3.6 本章小结 | 第74-76页 |
第4章 成像参数对HAADF STEM三维重构的影响 | 第76-94页 |
4.1 引言 | 第76-79页 |
4.2 图像模拟 | 第79-81页 |
4.3 信号收集探测器尺寸对STEM信号的影响 | 第81-86页 |
4.3.1 图像模拟结果分析 | 第81-84页 |
4.3.2 实验结果对比 | 第84-86页 |
4.4 电子束会聚角对STEM信号通道效应的影响 | 第86-91页 |
4.4.1 会聚角对投影近似的影响 | 第87-89页 |
4.4.2 会聚角大小对通道效应的影响 | 第89-91页 |
4.5 本章小结 | 第91-94页 |
第5章 改进的迭代波函数重构算法及其在低剂量波函数重构中的应用 | 第94-106页 |
5.1 引言 | 第94-95页 |
5.2 波函数重构方案 | 第95-97页 |
5.2.1 图像配准 | 第95-96页 |
5.2.2 欠焦步长的优化 | 第96-97页 |
5.2.3 电子束倾转校正 | 第97页 |
5.3 实验过程 | 第97-98页 |
5.4 结果与讨论 | 第98-104页 |
5.4.1 mIWFR方法重构的结果 | 第98-99页 |
5.4.2 图像配准 | 第99-101页 |
5.4.3 欠焦步长优化 | 第101-102页 |
5.4.4 电子束倾转校正 | 第102-104页 |
5.5 本章小结 | 第104-106页 |
结论 | 第106-110页 |
参考文献 | 第110-130页 |
致谢 | 第130-132页 |
攻读博士期间参与的项目 | 第132-134页 |
学术活动 | 第134-136页 |
附录A (攻读学位期间所发表的学术论文) | 第136页 |