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现代电子显微学中的几个基础问题研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第1章 绪论第16-42页
    1.1 引言第16-19页
    1.2 高分辨图像的模拟第19-24页
        1.2.1 样品势场计算第19-21页
        1.2.2 弱相位物近似第21页
        1.2.3 布洛赫波理论第21-22页
        1.2.4 多片层法第22-24页
    1.3 透射电镜成像理论第24-30页
        1.3.1 物镜像差第24-27页
        1.3.2 弱相位物成像第27-29页
        1.3.3 部分相干成像理论第29页
        1.3.4 透射交叉系数成像理论第29-30页
    1.4 欠焦系列像波函数重构第30-34页
        1.4.1 维纳滤波法第31页
        1.4.2 抛物面法第31-32页
        1.4.3 最大似然法第32页
        1.4.4 迭代波函数重构法第32-34页
    1.5 倾转系列像三维重构第34-40页
        1.5.1 Radon变换第35-36页
        1.5.2 倾转系列像三维重构的方法第36-40页
    1.6 论文研究的立题依据和主要内容第40-42页
第2章 三种多片层法在低能电子动力学衍射模拟中的适用性研究第42-56页
    2.1 引言第42-43页
    2.2 理论推导第43-47页
        2.2.1 CMS法第44-45页
        2.2.2 PCMS法第45-46页
        2.2.3 FCMS法第46-47页
    2.3 模拟参数第47-49页
    2.4 模拟结果第49-53页
    2.5 分析讨论第53-54页
    2.6 本章小结第54-56页
第3章 欠焦系列像中微小电子束倾转的精确测定第56-76页
    3.1 引言第56-57页
    3.2 理论推导第57-59页
    3.3 图像模拟验证第59-62页
    3.4 实验设备和方案第62-66页
        3.4.1 实验测量步骤第63页
        3.4.2 反射斑点相位测量第63-65页
        3.4.3 测量结果可靠度测试第65-66页
    3.5 实验结果第66-74页
        3.5.1 入射电子束相对倾转值的测量第66-67页
        3.5.2 欠焦步长的测量第67-68页
        3.5.3 样品漂移校正第68-70页
        3.5.4 入射电子束倾转值的测量和比较第70-74页
    3.6 本章小结第74-76页
第4章 成像参数对HAADF STEM三维重构的影响第76-94页
    4.1 引言第76-79页
    4.2 图像模拟第79-81页
    4.3 信号收集探测器尺寸对STEM信号的影响第81-86页
        4.3.1 图像模拟结果分析第81-84页
        4.3.2 实验结果对比第84-86页
    4.4 电子束会聚角对STEM信号通道效应的影响第86-91页
        4.4.1 会聚角对投影近似的影响第87-89页
        4.4.2 会聚角大小对通道效应的影响第89-91页
    4.5 本章小结第91-94页
第5章 改进的迭代波函数重构算法及其在低剂量波函数重构中的应用第94-106页
    5.1 引言第94-95页
    5.2 波函数重构方案第95-97页
        5.2.1 图像配准第95-96页
        5.2.2 欠焦步长的优化第96-97页
        5.2.3 电子束倾转校正第97页
    5.3 实验过程第97-98页
    5.4 结果与讨论第98-104页
        5.4.1 mIWFR方法重构的结果第98-99页
        5.4.2 图像配准第99-101页
        5.4.3 欠焦步长优化第101-102页
        5.4.4 电子束倾转校正第102-104页
    5.5 本章小结第104-106页
结论第106-110页
参考文献第110-130页
致谢第130-132页
攻读博士期间参与的项目第132-134页
学术活动第134-136页
附录A (攻读学位期间所发表的学术论文)第136页

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