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SiC MOSFET高速开关器件的驱动研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
符号对照表第13-14页
缩略语对照表第14-17页
第一章 绪论第17-23页
    1.1 研究背景及其意义第17-19页
    1.2 SiC MOSFET高速驱动及保护研究综述第19-20页
    1.3 论文主要研究内容第20-23页
第二章 SiC MOSFET高速开关理论研究第23-49页
    2.1 SiC MOSFET开关动态特性分析第23-37页
        2.1.1 理想开关和实际开关对比第23-27页
        2.1.2 MOSFET开关过程定性分析第27-29页
        2.1.3 MOSFET开关过程定量分析第29-37页
    2.2 SiC MOSFET并联均流特性分析第37-41页
        2.2.1 电流失衡概述第37-38页
        2.2.2 动态电流失衡原理分析第38-41页
    2.3 SiC MOSFET高速开关驱动的仿真研究第41-48页
        2.3.1 影响因素-驱动电阻第41-42页
        2.3.2 影响因素-驱动电压第42-43页
        2.3.3 影响因素-寄生电容第43-45页
        2.3.4 影响因素-温度T和阈值电压第45-48页
    2.4 本章小结第48-49页
第三章 SiC MOSFET高速开关驱动保护模块设计和仿真第49-85页
    3.1 SiC MOSFET高速开关驱动保护要点分析第49-52页
        3.1.1 SiC MOSFET与Si功率器件参数对比第49-50页
        3.1.2 设计要点分析第50-52页
    3.2 功率模块设计第52-53页
    3.3 驱动模块设计第53-59页
        3.3.1 供电电源设计第53-56页
        3.3.2 隔离方式选择第56-57页
        3.3.3 缓冲器设计第57-58页
        3.3.4 栅极驱动网络设计第58-59页
    3.4 控制模块设计第59-75页
        3.4.1 动态均流控制第60-62页
        3.4.2 过欠压检测第62-64页
        3.4.3 过流检测第64-68页
        3.4.4 开关切换控制第68-70页
        3.4.5 工作过程分析第70-75页
    3.5 PSpice仿真分析第75-84页
        3.5.1 动态均流仿真第75-78页
        3.5.2 驱动保护仿真第78-84页
    3.6 本章小结第84-85页
第四章 SiC MOSFET驱动保护模块样机制作与测试第85-103页
    4.1 样机制作第85-88页
    4.2 控制功能测试第88-92页
        4.2.1 死区时间测试第88-89页
        4.2.2 栅极过欠压保护控制测试第89页
        4.2.3 过流检测控制测试第89-91页
        4.2.4 动态均流控制测试第91-92页
    4.3 主电路测试第92-102页
        4.3.1 Boost变换器功能测试第92-95页
        4.3.2 钳位软关断测试第95-96页
        4.3.3 并联SiC MOSFET均流测试第96-102页
    4.4 本章小结第102-103页
第五章 总结与展望第103-105页
    5.1 工作总结第103-104页
    5.2 工作展望第104-105页
附录第105-107页
参考文献第107-110页
致谢第110-111页
作者简介第111-112页

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