原位X射线荧光测井井液的影响与校正
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 序言 | 第10-14页 |
| ·选题依据与研究意义 | 第10-11页 |
| ·国内、外现状 | 第11-12页 |
| ·国外研究概况 | 第11-12页 |
| ·国内研究现状 | 第12页 |
| ·研究内容 | 第12-13页 |
| ·研究成果与特色 | 第13-14页 |
| 第2章 X 荧光分析的理论基础 | 第14-17页 |
| ·X 射线荧光测井定性分析 | 第14-16页 |
| ·X 射线荧光测井定量分析 | 第16-17页 |
| 第3章 X 射线荧光测井影响因素及校正方法研究 | 第17-33页 |
| ·铍窗中杂质元素的影响与扣除 | 第17-18页 |
| ·铍窗对散射峰计数的影响 | 第17-18页 |
| ·铍窗对目标元素特征峰计数的影响 | 第18页 |
| ·井液的影响与校正 | 第18-25页 |
| ·井液厚度的确定 | 第19-21页 |
| ·井液厚度对目标元素特征峰计数的影响 | 第21-24页 |
| ·基本校正公式 | 第24-25页 |
| ·多元素X 射线谱的分解技术 | 第25-31页 |
| ·散射本底的扣除 | 第25-26页 |
| ·高斯拟合法求全能峰面积 | 第26-28页 |
| ·傅里叶-高斯解谱效果 | 第28-31页 |
| ·基体效应影响与校正 | 第31页 |
| ·不平度效应影响与校正 | 第31页 |
| ·矿化不均匀效应 | 第31-32页 |
| ·测井数据校正的操作步骤 | 第32-33页 |
| 第4章 仪器设备与实验准备 | 第33-40页 |
| ·实验准备 | 第33-35页 |
| ·仪器设备 | 第35-40页 |
| ·JGS-Y422 型X 射线荧光测井系统组成 | 第35-37页 |
| ·JGS-Y422 型X 射线荧光测井探管 | 第37-40页 |
| 第5章 井液影响校正的实验和效果 | 第40-61页 |
| ·井液校正的实验和效果 | 第40-53页 |
| ·实验一、水厚度和高含量Cu 计数之间关系实验 | 第40-46页 |
| ·实验二、水厚度和低含量Cu 计数之间关系实验 | 第46-48页 |
| ·实验三、不同类型井液实验 | 第48-53页 |
| ·方法研究结果评价 | 第53-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 攻读硕士期间取得学术成果 | 第66页 |
