首页--工业技术论文--原子能技术论文--受控热核反应(聚变反应理论及实验装置)论文--热核装置论文--磁约束装置论文--闭合等离子体装置论文

用于测量EAST等离子体小幅度电子温度涨落的CECE诊断的研制

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第14-34页
    1.1 EAST简介第14页
    1.2 等离子体约束与输运第14-17页
    1.3 ECE诊断的物理基础第17-21页
        1.3.1 单个电子的辐射第18-19页
        1.3.2 等离子体辐射第19页
        1.3.3 辐射输运和ECE测量第19-21页
    1.4 ECE诊断系统第21-26页
        1.4.1 外差系统第21页
        1.4.2 迈克尔逊干涉仪第21-22页
        1.4.3 法布里-铂罗干涉仪第22-23页
        1.4.4 光栅光谱仪第23-24页
        1.4.5 EAST ECE诊断系统第24-25页
        1.4.6 ECE测量电子温度涨落的限制第25-26页
    1.5 CECE诊断第26-34页
        1.5.1 CECE诊断的原理第26-27页
        1.5.2 不同CECE方案对比第27-29页
        1.5.3 密度涨落对CECE诊断的影响第29-30页
        1.5.4 CECE诊断的历史及发展趋势第30-32页
        1.5.5 EAST发展CECE诊断的计划第32-34页
第二章 EAST CECE准光学天线设计第34-56页
    2.1 高斯光束基础理论第34-44页
        2.1.1 高斯光传播理论第34-38页
        2.1.2 高斯光束转换第38-41页
        2.1.3 准光学系统设计准则第41-44页
    2.2 准光学系统设计方案第44-49页
        2.2.1 基于高斯光学的MATLAB模拟程序第44-45页
        2.2.2 不同设计方案对比第45-49页
    2.3 光学元件尺寸对光学特征的影响第49-53页
        2.3.1 ZEMAX模拟高斯光束传播第49-52页
        2.3.2 不同椭球面镜尺寸下的光学特性第52-53页
    2.4 准光系统的最终参数第53-56页
第三章 外差系统的搭建和实验室测试第56-62页
    3.1 外差系统的搭建第56页
    3.2 外差系统的实验室测试第56-62页
        3.2.1 中频线性度测试第57-58页
        3.2.2 整体线性度测试第58-59页
        3.2.3 外差系统的频率响应测试第59-62页
第四章 EAST等离子体电子温度涨落测量第62-72页
    4.1 CECE诊断的数据处理第62-67页
        4.1.1 电子温度涨落数据处理第63-66页
        4.1.2 MATLAB处理电子温度涨落数据第66-67页
    4.2 利用常规ECE的准光学系统的测试结果第67-72页
        4.2.1 电子温度涨落测量结果对比第68-69页
        4.2.2 CECE不同频率测试结果第69-72页
第五章 总结与展望第72-74页
参考文献第74-78页
附录A 用于EAST CECE准光学系统设计的MATLAB程序第78-82页
附录B ZEMAX模拟高斯光束操作流程第82-84页
附录C YIG滤波器操作说明第84-86页
附录D EAST CECE准光学系统设计图纸和实物图第86-90页
附录E EASTCECE诊断数据处理程序第90-92页
    E.1 CECE信号读取程序第90页
    E.2 CECE信号处理程序第90-92页
附录F EASTECE发射层宽度计算程序第92-96页
附录G 2016年EAST物理实验CECE测试炮汇总第96-98页
致谢第98-100页
在读期间发表的学术论文与取得的研究成果第100页

论文共100页,点击 下载论文
上一篇:Grad-Shafranov方程快速求解优化研究
下一篇:有机半导体自组装薄膜及其气敏特性研究