| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 主要符号表 | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 X射线能谱CT技术研究 | 第11-12页 |
| 1.2.2 X射线能谱CT图像重建算法研究 | 第12-13页 |
| 1.2.3 材质分析与识别技术研究 | 第13-14页 |
| 1.3 论文的主要工作及结构安排 | 第14-16页 |
| 第二章 X射线能谱CT技术研究 | 第16-29页 |
| 2.1 传统X-CT成像原理 | 第16-17页 |
| 2.2 传统X-CT重建算法基础 | 第17-24页 |
| 2.2.1 CT解析重建算法 | 第20-21页 |
| 2.2.2 CT迭代重建算法 | 第21-24页 |
| 2.3 光子计数探测器 | 第24-27页 |
| 2.3.1 X射线能谱CT成像的原理与技术基础 | 第24-26页 |
| 2.3.2 探测器成像模型 | 第26-27页 |
| 2.4 本章小节 | 第27-29页 |
| 第三章 X射线能谱CT图像重建算法研究 | 第29-40页 |
| 3.1 基于Split-Bregman算法的能谱CT重建算法 | 第29-32页 |
| 3.1.1 基于TV最小化的能谱CT重建模型 | 第29-30页 |
| 3.1.2 基于Split-Bregman算法的TV最小化能谱CT重建 | 第30-32页 |
| 3.2 基于Split-Bregman算法的能谱CT重建算法仿真实验研究 | 第32-39页 |
| 3.2.1 模体设计与通道划分 | 第32-34页 |
| 3.2.2 含噪声数据重建实验分析 | 第34-37页 |
| 3.2.3 稀疏角数据重建实验分析 | 第37-39页 |
| 3.3 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 材质识别方法研究 | 第40-51页 |
| 4.1 主成分分析 | 第40-45页 |
| 4.1.1 方法简介 | 第40-41页 |
| 4.1.2 算法流程 | 第41-42页 |
| 4.1.3 实验结果 | 第42-45页 |
| 4.2 K边缘值成像 | 第45-50页 |
| 4.2.1 物质的K边缘值特性 | 第45-46页 |
| 4.2.2 物质K边缘成像识别材质的实验研究 | 第46-50页 |
| 4.3 本章总结 | 第50-51页 |
| 第五章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 论文研究内容总结 | 第51-52页 |
| 5.2 论文研究问题展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-61页 |
| 攻读硕士学位期间发表、录用的论文目录及研究成果 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
