| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 论文研究背景 | 第14-15页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 课题研究的目的及意义 | 第16-17页 |
| 1.4 论文主要内容与编排 | 第17-18页 |
| 第二章 导航计算机测试方法与技术研究 | 第18-27页 |
| 2.1 导航计算机的测试需求分析 | 第18-20页 |
| 2.1.1 生产测试需求分析 | 第18-19页 |
| 2.1.2 使用测试需求分析 | 第19-20页 |
| 2.2 导航计算机的测试方法研究 | 第20-22页 |
| 2.2.1 元器件级测试 | 第20-22页 |
| 2.2.2 功能电路级测试与板级测试 | 第22页 |
| 2.3 基于FMEA与FTA的故障诊断技术 | 第22-26页 |
| 2.3.1 故障模式与影响分析(FMEA) | 第23-25页 |
| 2.3.2 故障树分析(FTA) | 第25-26页 |
| 2.3.3 故障模式及影响分析(FMEA)与故障树分析(FTA) | 第26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 基于FMEA分析的导航计算机故障研究 | 第27-46页 |
| 3.1 导航计算机功能结构划分 | 第27-28页 |
| 3.2 功能电路模块性能预期分析与故障表现 | 第28-35页 |
| 3.2.1 DSP最小系统分析 | 第29-30页 |
| 3.2.2 电源模块分析 | 第30-31页 |
| 3.2.3 外设接口控制模块分析 | 第31-32页 |
| 3.2.4 电平转换模块分析 | 第32页 |
| 3.2.5 数据通信接口模块分析 | 第32-35页 |
| 3.2.6 保护电路模块分析 | 第35页 |
| 3.3 元器件级故障模式及影响分析 | 第35-40页 |
| 3.3.1 数字集成电路芯片 | 第36-38页 |
| 3.3.2 通用电子元器件 | 第38-40页 |
| 3.4 功能电路级与板级故障模式及影响分析 | 第40-41页 |
| 3.5 基于故障模式及影响分析的故障树表达 | 第41-45页 |
| 3.5.1 基于FMEA的故障树分析方法 | 第42-44页 |
| 3.5.2 导航计算机的故障树模型分析 | 第44-45页 |
| 3.6 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 导航计算机测试系统研究与设计 | 第46-64页 |
| 4.1 测试系统总体方案设计 | 第46-47页 |
| 4.2 测试系统硬件平台设计 | 第47-50页 |
| 4.2.1 测试系统工控机的选型 | 第47-48页 |
| 4.2.2 自动测试系统板卡设计 | 第48-50页 |
| 4.2.3 接口转换装置 | 第50页 |
| 4.3 测试系统软件设计 | 第50-59页 |
| 4.3.1 固件在线烧写 | 第52页 |
| 4.3.2 数据通讯接口功能测试 | 第52-56页 |
| 4.3.3 板级故障检测 | 第56-57页 |
| 4.3.4 导航性能在线检测 | 第57页 |
| 4.3.5 导航计算机测试流程 | 第57-59页 |
| 4.4 导航计算机故障树诊断应用 | 第59-63页 |
| 4.4.1 系统故障树模型 | 第59-63页 |
| 4.4.2 故障诊断软件实现 | 第63页 |
| 4.5 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 测试系统功能验证 | 第64-73页 |
| 5.1 系统功能测试方法的研究 | 第64-65页 |
| 5.2 系统故障注入与检测 | 第65-72页 |
| 5.2.1 串行通讯接口 | 第65-67页 |
| 5.2.2 ARINC429接口 | 第67-68页 |
| 5.2.3 双向数据通讯 | 第68-69页 |
| 5.2.4 通用I/O口 | 第69页 |
| 5.2.5 板级故障测试 | 第69-70页 |
| 5.2.6 导航解算性能测试 | 第70-72页 |
| 5.3 系统测试结果分析 | 第72页 |
| 5.4 本章小结 | 第72-73页 |
| 第六章 全文总结与展望 | 第73-75页 |
| 6.1 论文的主要工作内容 | 第73-74页 |
| 6.2 后续研究工作展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第80页 |