| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10-13页 |
| 1.1.1 半导体激光器的发展与应用 | 第10-11页 |
| 1.1.2 半导体激光器低频电噪声检测 | 第11-12页 |
| 1.1.3 1/f噪声用于半导体激光器可靠性表征 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外进展现状 | 第13页 |
| 1.3 论文主要研究内容及创新点 | 第13-16页 |
| 第2章 半导体激光器电噪声概述及 1/f噪声相关性模型 | 第16-30页 |
| 2.1 半导体激光器电噪声种类及其与可靠性的关系 | 第16-19页 |
| 2.1.1 热噪声和散粒噪声 | 第16-17页 |
| 2.1.2 G-R噪声 | 第17页 |
| 2.1.3 1/f噪声及激光器各部分对 1/f噪声的影响 | 第17-18页 |
| 2.1.4 电噪声功率谱密度的频谱特性 | 第18-19页 |
| 2.2 低偏置电流下 1/f噪声的相关性原理 | 第19-29页 |
| 2.2.1 1/f噪声的物理模型 | 第19-21页 |
| 2.2.2 半导体激光器中 1/f噪声产生位置的判定依据 | 第21-23页 |
| 2.2.3 1/f噪声来源的传统判定法 | 第23-25页 |
| 2.2.4 1/f噪声小波变换表征及噪声来源相关性判定法 | 第25-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 半导体激光器 1/f噪声测量系统与相关性结果分析 | 第30-40页 |
| 3.1 基于CF-9200 的 1/f噪声测量系统构成 | 第30-31页 |
| 3.2 基于 9812D的 1/f噪声测量系统构成 | 第31-33页 |
| 3.3 基于 9812D与CF-9200 结合的 1/f噪声测量系统设计 | 第33-34页 |
| 3.4 半导体激光器 1/f噪声的测量结果 | 第34-39页 |
| 3.4.1 1/f噪声的检测 | 第35-36页 |
| 3.4.2 两种 1/f噪声来源判定方法结果比较 | 第36-39页 |
| 3.5 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 基于S3C2410的半导体激光器光电检测系统研制 | 第40-50页 |
| 4.1 半导体激光器的电导数检测技术 | 第40-44页 |
| 4.1.1 半导体激光器的伏安特性与光功率特性 | 第40页 |
| 4.1.2 半导体激光器的P-I特性 | 第40-41页 |
| 4.1.3 半导体激光器电导数的公式推导与参数表征 | 第41-43页 |
| 4.1.4 阈值电流的二次微分提取法 | 第43-44页 |
| 4.2 半导体激光器光电检测系统的总体设计 | 第44-49页 |
| 4.2.1 Magic ARM2410实验箱介绍 | 第44-45页 |
| 4.2.2 基于数字技术的检测系统构成 | 第45页 |
| 4.2.3 半导体激光器驱动与检测电路的设计 | 第45-47页 |
| 4.2.4 检测系统的GUI设计与实测结果显示 | 第47-49页 |
| 4.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 总结与展望 | 第50-52页 |
| 5.1 本文工作总结 | 第50-51页 |
| 5.2 下一步工作展望 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-56页 |
| 作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57页 |
