| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 研究现状与发展 | 第9-12页 |
| 1.3 本文主要工作与结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 平面近场测试基本原理 | 第14-30页 |
| 2.1 近场测试基本概念 | 第14-15页 |
| 2.2 天线近场测量的基本原理 | 第15-19页 |
| 2.2.1 综合平面波理论 | 第15-17页 |
| 2.2.2 不考虑探头补偿计算远场方向图 | 第17-18页 |
| 2.2.3 考虑探头补偿的近远场变化 | 第18-19页 |
| 2.3 扫描面参数选择 | 第19-21页 |
| 2.3.1 测量距离的确定 | 第19-20页 |
| 2.3.2 测量平面的截断 | 第20页 |
| 2.3.3 取样间隔 | 第20-21页 |
| 2.4 平面近场测试系统组成 | 第21-23页 |
| 2.5 半波振子阵列天线模型 | 第23-29页 |
| 2.5.1 半波振子阵列天线的远场方向图 | 第24-25页 |
| 2.5.2 半波振子的近场横向分量 | 第25-28页 |
| 2.5.3 计算机仿真 | 第28-29页 |
| 2.6 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 幅相误差对天线性能影响分析 | 第30-44页 |
| 3.1 幅相误差的来源分析 | 第30-31页 |
| 3.1.1 系统误差分析 | 第30-31页 |
| 3.1.2 缓变误差分析 | 第31页 |
| 3.1.3 随机误差分析 | 第31页 |
| 3.2 幅相误差对天线性能的影响 | 第31-37页 |
| 3.2.1 幅相误差对副瓣电平的影响 | 第32-36页 |
| 3.2.2 幅相误差对波束指向的影响 | 第36页 |
| 3.2.3 幅相误差对方向性系数、增益的影响 | 第36-37页 |
| 3.3 移相器的量化效应 | 第37-38页 |
| 3.4 阵元失效 | 第38-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 天线平面近场校准 | 第44-59页 |
| 4.1 有源相控阵天线发射通道近场校准 | 第44-50页 |
| 4.1.1 近场幅相误差仿真数学模型 | 第44-45页 |
| 4.1.2 近场扫描校准法 | 第45-47页 |
| 4.1.3 旋转矢量校准法 | 第47-50页 |
| 4.2 有源相控阵天线发射通道分区旋转矢量校准方法 | 第50-57页 |
| 4.2.1 相控阵天线校准的分区方法 | 第50-52页 |
| 4.2.2 相控阵天线分区校准 | 第52-57页 |
| 4.3 相控阵天线接收通道校准 | 第57-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 平面近场测试误差与近场诊断 | 第59-76页 |
| 5.1 测量系统误差 | 第59-60页 |
| 5.2 主要误差分析 | 第60-70页 |
| 5.2.1 有限扫描面截断误差分析与仿真 | 第60-63页 |
| 5.2.2 扫描面位置误差 | 第63-66页 |
| 5.2.3 暗室环境误差 | 第66-68页 |
| 5.2.4 多次耦合误差 | 第68-70页 |
| 5.2.5 误差合成 | 第70页 |
| 5.3 天线近场诊断 | 第70-75页 |
| 5.3.1 基于方向图乘积原理的天线近场诊断 | 第70-72页 |
| 5.3.2 基于平面波谱的近场诊断 | 第72-75页 |
| 5.4 小结 | 第75-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻读学位期间研究成果 | 第83页 |