一种用于裂纹检测的新结构反射式涡流探头
摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-13页 |
·研究的背景和意义 | 第8-9页 |
·无损检测技术 | 第9-10页 |
·涡流检测技术国内外发展状况 | 第10-12页 |
·涡流检测技术的研究现状 | 第10-11页 |
·涡流检测的发展方向与未来展望 | 第11-12页 |
·主要研究内容及文章结构 | 第12-13页 |
第二章 涡流检测的理论基础 | 第13-22页 |
·涡流检测原理 | 第13页 |
·涡流阻抗分析法 | 第13-17页 |
·线圈的阻抗 | 第13-15页 |
·耦合线圈的阻抗 | 第15-16页 |
·阻抗平面图 | 第16-17页 |
·阻抗归一化 | 第17页 |
·放置式探头检测频率 | 第17-21页 |
·集肤效应 | 第17-18页 |
·探头工作频率的确定 | 第18-20页 |
·边缘效应 | 第20页 |
·提离效应 | 第20-21页 |
·涡流信号预处理技术 | 第21-22页 |
·信号特征量 | 第21页 |
·信号预处理技术 | 第21-22页 |
第三章 探头设计 | 第22-30页 |
·涡流检测探头的设计方法 | 第22页 |
·主极裂纹涡流检测探头结构形式的确定 | 第22-24页 |
·探头参数的确定 | 第24-29页 |
·激励线圈与感应线圈的位置分布 | 第24-25页 |
·磁芯的设计 | 第25页 |
·探头参数和性能研究 | 第25-29页 |
·漆包线线径的选择及线圈匝数的确定 | 第29页 |
·涡流探头扫描方式 | 第29-30页 |
第四章 检测系统设计 | 第30-46页 |
·虚拟仪器技术简介 | 第30页 |
·总体方案设计 | 第30-31页 |
·信号的产生 | 第31-32页 |
·NI ELVIS 介绍 | 第31-32页 |
·NI PXI-6251 采集卡 | 第32页 |
·信号产生程序 | 第32页 |
·去直流功率放大电路 | 第32-34页 |
·微弱信号隔离放大滤波 | 第34-37页 |
·信号调理 | 第35页 |
·NI SCXI-1121 调理模块 | 第35-37页 |
·涡流检测信号的采集 | 第37-40页 |
·数据采集概述 | 第37页 |
·数据连续采集的实现 | 第37-40页 |
·相关函数的实现 | 第40-44页 |
·相关原理 | 第40-42页 |
·相关分析在LabVIEW 中的实现 | 第42-43页 |
·相位差程序的实现 | 第43-44页 |
·涡流检测软件界面 | 第44-46页 |
第五章 试验研究 | 第46-53页 |
·裂纹的制作 | 第46页 |
·激励频率对检测结果的影响 | 第46-48页 |
·提离值对检测结果的影响 | 第48-49页 |
·裂纹对检测结果的影响 | 第49-53页 |
第六章 总结与展望 | 第53-55页 |
·总结 | 第53页 |
·需要进一步研究的地方 | 第53-55页 |
参考文献 | 第55-58页 |
个人简历 在读期间发表的学术论文 | 第58-59页 |
致谢 | 第59页 |