| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-25页 |
| 1.1 电阻开关效应的分类 | 第11-16页 |
| 1.1.1 I-V曲线特性：单极性、双极性 | 第11-12页 |
| 1.1.2 根据效应发生的具体位置：体效应、界面效应 | 第12-13页 |
| 1.1.3 根据作用物理机理：电化学氧化还原机制、热化学机制、价态变化机制 | 第13-16页 |
| 1.2 应用：新型非挥发性存储器 | 第16-20页 |
| 1.3 NiO单极性开关效应中物理机制的研究进展 | 第20-23页 |
| 1.4 选题思路与研究内容 | 第23-25页 |
| 第2章 实验方法 | 第25-37页 |
| 2.1 样品制备技术 | 第25-30页 |
| 2.2 样品质量表征 | 第30-37页 |
| 2.2.1 原子力显微镜 | 第30-31页 |
| 2.2.2 透射电子显微镜 | 第31-33页 |
| 2.2.3 输运测量 | 第33-34页 |
| 2.2.4 阻抗测量 | 第34-35页 |
| 2.2.5 超导量子干涉磁强计 | 第35-37页 |
| 第3章 NiO开关效应中Ni细丝的直接观测和表征 | 第37-49页 |
| 3.1 引言 | 第37-40页 |
| 3.2 样品的制备与基本性质表征 | 第40-43页 |
| 3.2.1 NiO样品的制备 | 第40页 |
| 3.2.2 样品基本性质表征 | 第40-43页 |
| 3.3 NiO在TEM下的观测结果 | 第43-48页 |
| 3.3.1 带树枝状的完整细丝的观察及结构表征 | 第43-47页 |
| 3.3.2 晶界结构畸变处细丝的观察 | 第47-48页 |
| 3.4 本章小节 | 第48-49页 |
| 第4章 NiO开关效应中Ni细丝的演变过程 | 第49-71页 |
| 4.1 引言 | 第49-50页 |
| 4.2 I-V曲线测量及统计 | 第50-53页 |
| 4.3 阻抗谱测量及模数转换 | 第53-57页 |
| 4.4 等效电路及电容拟合 | 第57-59页 |
| 4.5 R-T曲线测量及热激活能计算 | 第59-60页 |
| 4.6 氧空位含量对输运影响的第一性原理计算 | 第60-63页 |
| 4.7 不同高阻态下的电流传导机制 | 第63-70页 |
| 4.8 本章小结 | 第70-71页 |
| 第5章 NiO开关效应中的磁电耦合 | 第71-81页 |
| 5.1 引言 | 第71-72页 |
| 5.2 电场对样品磁性质的调控 | 第72-74页 |
| 5.3 磁场对样品电性质的调控 | 第74-80页 |
| 5.4 本章小节 | 第80-81页 |
| 第6章 总结 | 第81-83页 |
| 6.1 研究总结 | 第81-82页 |
| 6.2 展望 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-89页 |
| 致谢 | 第89-91页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第91页 |