| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 磁学简介 | 第11-14页 |
| 1.2.1 磁性起源 | 第11页 |
| 1.2.2 磁性的分类 | 第11-12页 |
| 1.2.3 材料的磁化 | 第12-13页 |
| 1.2.4 磁各向异性 | 第13-14页 |
| 1.3 自旋电子学发展历程 | 第14-16页 |
| 第二章 基本理论 | 第16-26页 |
| 2.1 简介 | 第16页 |
| 2.2 磁光克尔效应 | 第16-20页 |
| 2.2.1 磁光克尔效应概念 | 第16-17页 |
| 2.2.2 克尔旋光角的理论推导 | 第17-20页 |
| 2.3 时间分辨的超快磁光克尔效应 | 第20-26页 |
| 2.3.1 时间分辨克尔旋转技术概念 | 第20-22页 |
| 2.3.2 自旋动力学 | 第22-26页 |
| 第三章 实验设备 | 第26-32页 |
| 3.1 聚焦磁光克尔测量系统(Focus MOKE) | 第26-29页 |
| 3.1.1 简介 | 第26页 |
| 3.1.2 基本理论 | 第26-27页 |
| 3.1.3 聚焦磁光克尔系统的建立 | 第27-29页 |
| 3.2 时间分辨磁光克尔测量系统(TRMOKE) | 第29-32页 |
| 3.2.1 简介 | 第29-30页 |
| 3.2.2 基本理论 | 第30页 |
| 3.2.3 时间分辨磁光克尔系统的建立 | 第30-32页 |
| 第四章 磁性薄膜各向异性的研究 | 第32-50页 |
| 4.1 CoFeB/GaAs图形化薄膜各向异性的研究 | 第32-42页 |
| 4.1.1 简介 | 第32-33页 |
| 4.1.2 样品制备和测量方法 | 第33-36页 |
| 4.1.3 实验测量和数据分析 | 第36-42页 |
| 4.2 GaAs基片上铁单晶薄膜厚度对其磁性的影响 | 第42-50页 |
| 4.2.1 简介 | 第42-43页 |
| 4.2.2 样品的制备和表征 | 第43-46页 |
| 4.2.3 实验测量和数据分析 | 第46-50页 |
| 第五章 Co/Pt多层薄膜超快磁动力学的研究 | 第50-56页 |
| 5.1 简介 | 第50-52页 |
| 5.2 样品的制备 | 第52页 |
| 5.3 实验测量和数据分析 | 第52-56页 |
| 第六章 主要结论 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 硕士期间学术成果 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
