基于γ射线CT及ECT的气液两相流成像系统
| 中文摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-19页 |
| ·工业两相流检测 | 第11-14页 |
| ·工业两相流及其检测技术概述 | 第11-12页 |
| ·工业过程成像技术 | 第12-13页 |
| ·双模态成像技术 | 第13-14页 |
| ·CT 发展历史 | 第14-16页 |
| ·医学CT 发展历史 | 第14-15页 |
| ·工业CT 发展历史 | 第15-16页 |
| ·本文主要内容与创新点 | 第16-19页 |
| 第二章 工业CT 系统原理 | 第19-37页 |
| ·放射性计数的统计性 | 第19-21页 |
| ·射线与物质的相互作用 | 第21-24页 |
| ·γ光子与物质的相互作用 | 第21-23页 |
| ·射线衰减规律 | 第23-24页 |
| ·扇形束CT 原理 | 第24-31页 |
| ·扇形束CT 的基本问题 | 第24-28页 |
| ·扇形束投影重建算法 | 第28-30页 |
| ·基于最优化思想的迭代方法 | 第30-31页 |
| ·系统仿真 | 第31-36页 |
| ·仿真模型的建立 | 第31-33页 |
| ·射线衰减过程仿真 | 第33页 |
| ·射线散射过程仿真 | 第33-35页 |
| ·系统结构仿真 | 第35-36页 |
| ·小结 | 第36-37页 |
| 第三章 工业CT 系统硬件设计 | 第37-51页 |
| ·系统方案 | 第37-38页 |
| ·扇形结构 | 第38-40页 |
| ·扇形束的构成 | 第38-39页 |
| ·射线源与探测器的选用 | 第39-40页 |
| ·前端电路 | 第40-44页 |
| ·电荷灵敏前置放大器 | 第40-42页 |
| ·CR 成形网络和反相驱动电路 | 第42-44页 |
| ·后端电路 | 第44-46页 |
| ·四阶低通滤波器 | 第44-45页 |
| ·单道脉冲幅度分析器 | 第45-46页 |
| ·FPGA 计数器 | 第46-49页 |
| ·计数器方案的选用 | 第46-48页 |
| ·FPGA 计数器开发流程 | 第48-49页 |
| ·机电系统 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 第四章 系统软件设计与性能分析 | 第51-65页 |
| ·系统软件设计 | 第51-54页 |
| ·系统软件介绍 | 第51-52页 |
| ·数据采集模块 | 第52-53页 |
| ·图像重建模块 | 第53-54页 |
| ·图像重建算法 | 第54-58页 |
| ·ART 算法 | 第54-55页 |
| ·Landweber 迭代算法 | 第55-57页 |
| ·共轭梯度算法 | 第57-58页 |
| ·系统性能分析 | 第58-64页 |
| ·空间分辨率 | 第58-60页 |
| ·噪声因素分析 | 第60-62页 |
| ·伪迹 | 第62-63页 |
| ·计数值的统计性 | 第63-64页 |
| ·小结 | 第64-65页 |
| 第五章 工业CT 系统实验 | 第65-81页 |
| ·系统静态实验 | 第65-69页 |
| ·实验准备工作 | 第65页 |
| ·ART 算法实验 | 第65-68页 |
| ·各算法对比实验 | 第68-69页 |
| ·改变扫描模式实验 | 第69-71页 |
| ·系统动态试验 | 第71-75页 |
| ·动态模型成像 | 第71-72页 |
| ·计数时间变化实验 | 第72-74页 |
| ·运动速度变化实验 | 第74-75页 |
| ·信号去噪与成像 | 第75-79页 |
| ·小结 | 第79-81页 |
| 第六章 ECT 系统设计 | 第81-111页 |
| ·CT/ECT 双模态方案 | 第81-82页 |
| ·ECT 系统的数学基础 | 第82-87页 |
| ·ECT 系统原理 | 第82-85页 |
| ·ECT 成像算法 | 第85-87页 |
| ·ECT 系统硬件设计 | 第87-92页 |
| ·ECT 系统结构 | 第87-88页 |
| ·前端数据采集电路 | 第88-90页 |
| ·后端信号处理电路 | 第90-92页 |
| ·数据解调与算法实现 | 第92-98页 |
| ·FPGA 正交序列解调 | 第93-94页 |
| ·DSP 滤波解调 | 第94-97页 |
| ·成像时间估计 | 第97-98页 |
| ·ECT 系统软件设计 | 第98-100页 |
| ·上位机系统软件设计 | 第98-99页 |
| ·DSP 与FPGA 软件设计 | 第99-100页 |
| ·ECT 系统性能测试 | 第100-106页 |
| ·系统重复性测试 | 第100-101页 |
| ·静态性能测试 | 第101-102页 |
| ·动态性能测试 | 第102-103页 |
| ·多频实验 | 第103-106页 |
| ·CT/ECT 双模态实验 | 第106-109页 |
| ·小结 | 第109-111页 |
| 第七章 总结与建议 | 第111-113页 |
| ·总结 | 第111-112页 |
| ·建议 | 第112-113页 |
| 参考文献 | 第113-125页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第125-127页 |
| 致谢 | 第127页 |
