交联聚乙烯—硅橡胶界面电痕破坏现象研究
中文摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-9页 |
第一章 绪论 | 第9-19页 |
·选题背景及意义 | 第9-10页 |
·交联聚乙烯电力电缆概况 | 第10页 |
·交联聚乙烯电力电缆的结构 | 第10-12页 |
·交联聚乙烯电力电缆接头概况 | 第12-15页 |
·交联聚乙烯电力电缆接头的结构 | 第12-13页 |
·预制接头的安装工艺 | 第13-15页 |
·交联聚乙烯电力电缆接头击穿现象 | 第15-16页 |
·有机绝缘界面电痕击穿的研究和发展趋势 | 第16-17页 |
·本论文的主要工作和创新点 | 第17-19页 |
·主要工作 | 第17-18页 |
·创新点 | 第18-19页 |
第二章 界面电痕破坏实验系统和界面破坏的一般过程 | 第19-38页 |
·实验配置 | 第19-22页 |
·样品制备实验界面构造 | 第19-21页 |
·实验材料的选择 | 第21-22页 |
·实验电路 | 第22页 |
·电极系统 | 第22页 |
·数据测量系统 | 第22-26页 |
·放电电流和放电光强度的测量和保护 | 第22-24页 |
·放电光强度测量的光路 | 第24-25页 |
·高速相机放电光分布和炭化分布的测量 | 第25-26页 |
·试验方法和过程 | 第26-27页 |
·实验结果 | 第27-37页 |
·放电光强度和放电电流之间的关系 | 第27-29页 |
·放电光分布随时间的变化 | 第29-34页 |
·放电光强度与亮度之间的关系 | 第34-35页 |
·炭化分布变化规律 | 第35-36页 |
·界面放电光与电痕分布的关系 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第三章 界面压力对界面电痕破坏的影响和规律 | 第38-53页 |
·引言 | 第38-39页 |
·实验 | 第39页 |
·分形维数分析方法 | 第39-42页 |
·界面压力(强)对界面击穿的影响 | 第42-52页 |
·电压对放电光和破坏的过程 | 第43-46页 |
·界面压力对放电和电痕的影响 | 第46-51页 |
·界面压力对界面电痕破坏现象和影响机理 | 第51-52页 |
·本章小结 | 第52-53页 |
第四章 界面缺陷对界面击穿的影响 | 第53-71页 |
·引言 | 第53页 |
·界面粗糙度不均匀分布对界面电痕破坏的影响 | 第53-57页 |
·实验 | 第53-54页 |
·实验结果 | 第54-57页 |
·粗糙度均匀分布对界面电痕破坏的影响 | 第57-61页 |
·实验配置 | 第57页 |
·实验结果 | 第57-61页 |
·界面划伤对界面电痕破坏的影响 | 第61-66页 |
·实验配置 | 第61页 |
·实验结果 | 第61-66页 |
·界面划痕对界面电痕破坏的规律 | 第66页 |
·界面导电屑对界面电痕破坏的影响 | 第66-69页 |
·实验配置 | 第66-67页 |
·实验结果 | 第67-68页 |
·导电屑仅与高压电极连接的电痕破坏 | 第68页 |
·导电屑与两个电极都未连接的电痕破坏 | 第68-69页 |
·本章小结 | 第69-71页 |
第五章 硅脂界面的电痕破坏现象和规律 | 第71-78页 |
·电力电缆接头用硅脂性能 | 第71页 |
·充满硅脂界面的电痕破坏 | 第71-73页 |
·实验配置 | 第71-72页 |
·实验结果 | 第72-73页 |
·高压电极附近无硅脂时的电痕破坏 | 第73-75页 |
·实验配置 | 第73-74页 |
·实验结果 | 第74-75页 |
·电极之间部分无硅脂时的电痕破坏 | 第75-76页 |
·实验配置 | 第75页 |
·实验结果 | 第75-76页 |
·本章小结 | 第76-78页 |
第六章 全文总结 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-86页 |
发表论文和科研情况说明 | 第86-88页 |
致谢 | 第88-89页 |
附录1 视频连续帧截图VB程序 | 第89-94页 |
附录2. 图像边沿盒维数计算MATLAB程序 | 第94-98页 |
附录3. 放电光和炭化电痕定量计算程序 | 第98页 |