| 摘要 | 第1-6页 |
| Abctract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·引言 | 第10-12页 |
| ·IGBT参数测试的意义 | 第12页 |
| ·IGBT参数测试技术发展及现状 | 第12-14页 |
| ·测试参数概述 | 第12-13页 |
| ·测试设备概述 | 第13-14页 |
| ·本文主要工作 | 第14-18页 |
| 第2章 IGBT静态参数测试方法及测试平台研究 | 第18-30页 |
| ·IGBT主要静态参数及测试方法 | 第18-25页 |
| ·V_(GES),I_(GES)测试 | 第19-20页 |
| ·V_(GE(th))测试 | 第20页 |
| ·V_(CES),I_(CES)测试 | 第20-21页 |
| ·C_(ies),C_(oes),C_(res)测试 | 第21-22页 |
| ·V_(CE(sat))及静态输出曲线测试 | 第22-25页 |
| ·静态测试平台实施方案 | 第25-30页 |
| ·系统整体结构 | 第27-28页 |
| ·测试系统硬件电路设计 | 第28-30页 |
| 第3章 IGBT动态参数测试方法及测试平台研究 | 第30-46页 |
| ·双脉冲测试原理 | 第30-31页 |
| ·动态测试平台母线电容及电感的选择 | 第31-36页 |
| ·测试设备的选择 | 第36-39页 |
| ·电源充放电部分设计 | 第39-40页 |
| ·电感设计 | 第40-41页 |
| ·叠层母排设计 | 第41-42页 |
| ·驱动及保护电路设计 | 第42-43页 |
| ·控制电路设计 | 第43-44页 |
| ·Labview人机界面设计 | 第44-46页 |
| 第4章 IGBT静态参数及动态参数测试结果及分析 | 第46-64页 |
| ·静态参数测试结果及分析 | 第46-53页 |
| ·门极参数V_(GES),I_(GES)测试结果 | 第46页 |
| ·开启电压V_(GE(th))测试结果 | 第46-47页 |
| ·寄生电容测试结果 | 第47-48页 |
| ·V_(CES),I_(CES)测试结果 | 第48-50页 |
| ·静态输出曲线测试 | 第50-53页 |
| ·动态测试平台测试结果及分析 | 第53-64页 |
| ·动态参数定义及计算方法 | 第53-55页 |
| ·不同测试电流对开关特性的影响 | 第55-57页 |
| ·不同母线电压对开关特性的影响 | 第57-60页 |
| ·不同驱动电阻下的测试结果 | 第60-64页 |
| 第5章 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·总结 | 第64-65页 |
| ·展望 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |