| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-18页 |
| ·ADC 的发展趋势和国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·工艺演进对流水线ADC 设计带来的影响 | 第12-15页 |
| ·数字校正技术 | 第15-16页 |
| ·论文的主要研究内容与创新点 | 第16页 |
| ·论文的组织结构 | 第16-18页 |
| 第2章 流水线ADC 的理论基础以及非理想因素分析 | 第18-38页 |
| ·流水线ADC 介绍 | 第18-26页 |
| ·流水线ADC 的基本结构与工作原理 | 第18-23页 |
| ·流水线ADC 的主要性能指标 | 第23-26页 |
| ·非理想因素的来源和影响 | 第26-34页 |
| ·数字校正技术 | 第34-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 自适应后台数字校正算法设计 | 第38-82页 |
| ·技术回顾 | 第38-50页 |
| ·前台数字校正技术 | 第39-42页 |
| ·后台数字校正技术 | 第42-50页 |
| ·虚拟ADC 均衡技术 | 第50-66页 |
| ·虚拟ADC 均衡技术原理 | 第50-53页 |
| ·数字预测器 | 第53-56页 |
| ·虚拟ADC 均衡技术实现方法 | 第56-62页 |
| ·虚拟ADC 均衡技术行为级仿真结果 | 第62-66页 |
| ·偏移双通道ADC 技术 | 第66-81页 |
| ·偏移双转换技术原理 | 第66-69页 |
| ·偏移双转换技术实现方法 | 第69-73页 |
| ·偏移双通道ADC 技术实现方法 | 第73-76页 |
| ·偏移双通道技术行为级仿真结果 | 第76-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第4章 高性能低功耗流水线ADC 设计 | 第82-104页 |
| ·设计目标 | 第82页 |
| ·低电压低功耗设计 | 第82-89页 |
| ·SHA-less 技术 | 第82-84页 |
| ·子级有效比特数的选择 | 第84-86页 |
| ·五管运算放大器结构 | 第86-88页 |
| ·分离反馈电容提高闭环增益 | 第88-89页 |
| ·流水线ADC 电路设计实例 | 第89-97页 |
| ·流水线ADC 级数的确定 | 第89-90页 |
| ·Stage1 的设计 | 第90-95页 |
| ·Stage2 的设计 | 第95-96页 |
| ·Stage3~stage8 的设计 | 第96-97页 |
| ·版图设计 | 第97页 |
| ·电路仿真结果 | 第97-102页 |
| ·本章小结 | 第102-104页 |
| 第5章 测试结果 | 第104-114页 |
| ·测试方案 | 第104-107页 |
| ·测试系统 | 第104-105页 |
| ·测试板结构 | 第105-106页 |
| ·测试芯片版图 | 第106-107页 |
| ·静态性能测试 | 第107-108页 |
| ·动态性能测试 | 第108-113页 |
| ·本章小结 | 第113-114页 |
| 结论 | 第114-116页 |
| 工作总结 | 第114-115页 |
| 工作展望 | 第115-116页 |
| 参考文献 | 第116-123页 |
| 攻读博士学位期间所发表的学术论文 | 第123-124页 |
| 致谢 | 第124页 |