| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| ·课题研究的背景及意义 | 第8-9页 |
| ·红外焦平面非均匀校正技术综述 | 第9-12页 |
| ·本文的内容安排 | 第12-13页 |
| 2 基于一点校正与变化检测的时域高通校正算法 | 第13-31页 |
| ·红外焦平面工作原理与非均匀性产生机理 | 第13-15页 |
| ·红外焦平面非均匀性的定义与度量方法 | 第15-17页 |
| ·红外焦平面非均匀性校正算法研究 | 第17-24页 |
| ·改进的基于时域高通的非均匀校正算法 | 第24-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 3 基于评价准则的红外焦平面盲元检测 | 第31-60页 |
| ·红外焦平面中的盲元对红外系统的影响 | 第31-32页 |
| ·红外焦平面中盲元的产生机理与特性分析 | 第32-37页 |
| ·红外焦平面的类盲元问题 | 第37-40页 |
| ·盲元的定义与评价准则 | 第40-45页 |
| ·盲元检测算法研究 | 第45-58页 |
| ·本章小结 | 第58-60页 |
| 4 总结和展望 | 第60-61页 |
| ·工作总结 | 第60页 |
| ·研究展望 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 附录1 攻读硕士期间发表论文目录 | 第66页 |