| 摘要 | 第1-12页 |
| Abstract | 第12-14页 |
| 第1章 文献综述 | 第14-38页 |
| ·生物传感器简介 | 第14页 |
| ·检测胆固醇的研究发展 | 第14-18页 |
| ·胆固醇简介 | 第14-15页 |
| ·胆固醇的检测意义 | 第15页 |
| ·胆固醇的检测方法 | 第15-17页 |
| ·胆固醇生物传感器的研究现状 | 第17-18页 |
| ·分子印迹技术简介 | 第18-24页 |
| ·分子印迹技术的基本原理 | 第19页 |
| ·分子印迹技术的分类 | 第19-21页 |
| ·分子印迹技术的应用 | 第21-24页 |
| ·胆固醇分子印迹电化学传感器的研究现状 | 第24页 |
| ·SnO_2电极材料研究 | 第24-26页 |
| ·金属薄膜修饰硅电极 | 第26页 |
| ·选题依据、目的和意义 | 第26-27页 |
| 参考文献 | 第27-38页 |
| 第2章 锡锑氧化物修饰钛表面用于胆固醇分子印迹电极 | 第38-53页 |
| ·实验部分 | 第38-41页 |
| ·试剂及仪器 | 第38-39页 |
| ·钛基锑掺杂的二氧化锡薄膜电极的制备 | 第39页 |
| ·钛基二元共掺二氧化锡电极(裸电极)的制备 | 第39-40页 |
| ·裸电极表面自组装含有胆固醇的十二烷基硫醇膜(膜电极) | 第40页 |
| ·膜电极上胆固醇的洗脱形成筛孔电极 | 第40页 |
| ·胆固醇分子印迹电极 | 第40页 |
| ·电化学测量 | 第40页 |
| ·电极表面的表征 | 第40-41页 |
| ·结果与讨论 | 第41-51页 |
| ·掺杂对 SnO_2电极伏安性能的影响 | 第41-43页 |
| ·温度对 Ce-Sb 共掺杂的钛基二氧化锡电极伏安性能的影响 | 第43页 |
| ·Ce-Sb-Sn/Ti 电极表面的分析 | 第43-47页 |
| ·Ce-Sb 共掺杂 SnO_2修饰钛电极用于胆固醇分子印迹电化学测量 | 第47-51页 |
| ·本章小结 | 第51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 第3章 锡锑氧化物修饰多孔硅表面用于胆固醇分子印迹电极 | 第53-65页 |
| ·实验部分 | 第53-56页 |
| ·试剂及仪器 | 第53-54页 |
| ·单晶硅片的预处理 | 第54页 |
| ·多孔硅的制备 | 第54-55页 |
| ·氧化锡薄膜修饰多孔硅表面 | 第55页 |
| ·修饰后的多孔硅电极表面胆固醇分子印迹膜的自组装 | 第55-56页 |
| ·电化学测量及表征 | 第56页 |
| ·结果与讨论 | 第56-62页 |
| ·氧化锡薄膜修饰前后多孔硅电极表面的电化学伏安特性 | 第56-58页 |
| ·Ce-Sb-SnO_2/PS 基自组装分子印迹膜的电化学测量 | 第58-60页 |
| ·光照对 Ce-Sb-SnO_2/PS 基胆固醇分子印迹电极伏安性能的影响 | 第60-61页 |
| ·Ce-Sb-SnO_2/PS 基筛孔电极对不同浓度胆固醇的光电化学伏安响应 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 第4章 金属薄膜修饰硅表面用于胆固醇分子印迹电极 | 第65-81页 |
| ·实验部分 | 第65-67页 |
| ·试剂及仪器 | 第65-66页 |
| ·单晶硅片的预处理 | 第66页 |
| ·硅表面蒸镀金属薄膜的修饰 | 第66-67页 |
| ·硅基电极表面胆固醇分子印迹膜的自组装 | 第67页 |
| ·电化学测量及表征 | 第67页 |
| ·结果与讨论 | 第67-78页 |
| ·不同金属膜修饰硅电极的伏安性能比较 | 第67-69页 |
| ·光照对金属修饰硅电极伏安性能的影响 | 第69-71页 |
| ·Ni 修饰硅电极组装分子印迹膜后的伏安性能 | 第71-72页 |
| ·Pt 修饰硅电极组装分子印迹膜后的伏安性能 | 第72-73页 |
| ·Pt-Ni 合金膜修饰硅电极以及组装分子印迹膜后的伏安特性 | 第73-75页 |
| ·Pt-Ni 修饰硅筛孔电极对不同浓度胆固醇的光电化学伏安响应 | 第75-77页 |
| ·Pt-Ni 合金膜修饰硅电极表面的 XPS 分析 | 第77-78页 |
| ·本章小结 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-81页 |
| 第5章 结论 | 第81-83页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文目录 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
