| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-14页 |
| ·机器视觉技术概论 | 第7-8页 |
| ·机器视觉在工业检测中的应用 | 第8-10页 |
| ·相关技术国内外研究发展动态及其存在的主要问题 | 第10-11页 |
| ·课题来源、研究内容及意义 | 第11-14页 |
| 第2章 铜箔基板在线检测系统的软硬件开发设计 | 第14-26页 |
| ·概述 | 第14页 |
| ·系统硬件的开发和设计 | 第14-20页 |
| ·监控管理部分的开发设计 | 第14-17页 |
| ·图像采集处理部分的开发设计 | 第17-18页 |
| ·光源部分 | 第18页 |
| ·关键设备的选择 | 第18-20页 |
| ·系统软件的开发和设计 | 第20-24页 |
| ·系统软件总体构成 | 第21页 |
| ·部分关键功能模块的实现 | 第21-23页 |
| ·系统的工作流程 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-26页 |
| 第3章 运动铜箔基板的图像采集与预处理 | 第26-34页 |
| ·概述 | 第26页 |
| ·运动铜箔基板的图像采集 | 第26-31页 |
| ·CCD 工作原理 | 第27-30页 |
| ·CCD 在动态图象摄取中的问题及解决方案 | 第30-31页 |
| ·图像预处理 | 第31-33页 |
| ·图像的平滑去噪 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 铜箔基板疵点的检测 | 第34-45页 |
| ·概述 | 第34页 |
| ·一种基于Log_ Pr ewitt 算子的边缘检测新算法 | 第34-41页 |
| ·边缘检测方法概述 | 第35-38页 |
| ·Log_Pr ewitt 算子的提出 | 第38-41页 |
| ·图像两值化 | 第41-44页 |
| ·一种基于直方图的自适应二值化方法 | 第41-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第5章 铜箔基板疵点参数测量 | 第45-58页 |
| ·概述 | 第45页 |
| ·待测目标的边界补全 | 第45-49页 |
| ·数学形态学及其常用操作 | 第46-48页 |
| ·数学形态学方法用于本系统中的边界补全 | 第48-49页 |
| ·常用形态参数的测量方法 | 第49-55页 |
| ·链码简介 | 第49-50页 |
| ·链码表到区间表的转换 | 第50-52页 |
| ·待检疵点轮廓跟踪 | 第52-53页 |
| ·根据链码表、区间表计算形态参数 | 第53-55页 |
| ·特征形态参数的选择 | 第55-57页 |
| ·本系统中特征形态参数选择的条件 | 第55-56页 |
| ·本系统中特征形态参数的选择 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第6章 基于网络通信、多线程技术的研究 | 第58-66页 |
| ·概述 | 第58页 |
| ·网络通信技术的研究 | 第58-62页 |
| ·Windows Socket 编程概述 | 第58-60页 |
| ·利用套接字在局域网内传送数据时产生的问题及解决 | 第60-62页 |
| ·多线程技术的研究 | 第62-65页 |
| ·线程的概念 | 第63页 |
| ·线程间通信与同步 | 第63-64页 |
| ·多线程技术在本系统中的应用 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第7章 结论 | 第66-69页 |
| ·全文的总结 | 第66-67页 |
| ·存在的问题和展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |