基于SOC架构的可测试性设计策略的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第1章 绪论 | 第7-16页 |
| ·系统芯片SOC的概念 | 第7-9页 |
| ·SOC测试面临的挑战 | 第9-12页 |
| ·基本SOC测试结构 | 第12-14页 |
| ·测试源和测试宿 | 第12-13页 |
| ·测试访问机制 | 第13-14页 |
| ·测试环 | 第14页 |
| ·论文的研究重点和章节安排 | 第14-16页 |
| 第2章 SOC芯片测试结构 | 第16-42页 |
| ·SOC与SOB测试的区别 | 第16-19页 |
| ·测试环基本结构 | 第19-26页 |
| ·测试环结构介绍 | 第19-22页 |
| ·IEEE P1500与CTL介绍 | 第22-26页 |
| ·测试访问机制 | 第26-35页 |
| ·直接测试访问 | 第26-28页 |
| ·核透明化TAM机制 | 第28-29页 |
| ·基于总线的测试访问 | 第29-33页 |
| ·CAS-BUS测试访问机制 | 第33-35页 |
| ·测试调度问题 | 第35-41页 |
| ·测试调度基本概念 | 第35-36页 |
| ·整数线性规划模型 | 第36-38页 |
| ·矩形装箱的测试调度 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第3章 虚拟TAM机制 | 第42-58页 |
| ·虚拟TAM机制 | 第42-46页 |
| ·虚拟TAM结构 | 第42-44页 |
| ·虚拟TAM结构参数确定 | 第44-46页 |
| ·测试时间下限的确定 | 第46-48页 |
| ·拉格朗日乘子法测试调度 | 第48-57页 |
| ·NP问题描述 | 第48-50页 |
| ·测试调度问题描述 | 第50-51页 |
| ·拉格朗日乘子法测试调度 | 第51-57页 |
| ·虚拟TAM的缺陷与代价 | 第57-58页 |
| 第4章 实验结果分析 | 第58-62页 |
| ·实验结果 | 第58-60页 |
| ·结论与分析 | 第60-62页 |
| 第5章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 致谢 | 第68页 |
