| 第一章 绪论 | 第1-17页 |
| ·研究的背景及意义 | 第13-14页 |
| ·国外的研究现状 | 第14-15页 |
| ·内建自测试技术的研究现状 | 第14页 |
| ·外建自测试技术的研究现状 | 第14-15页 |
| ·国内研究现状 | 第15页 |
| ·论文的组织 | 第15-17页 |
| 第二章 从测试到SOC测试 | 第17-33页 |
| ·测试基础 | 第17-22页 |
| ·测试基本概念 | 第17页 |
| ·故障模型及测试向量生成 | 第17-18页 |
| ·测试类型 | 第18-19页 |
| ·常用的可测性设计方法 | 第19-22页 |
| ·系统芯片SOC和IP核基本概念 | 第22-24页 |
| ·系统芯片SOC | 第22-23页 |
| ·IP核简介 | 第23-24页 |
| ·概念性的SOC测试结构 | 第24-27页 |
| ·测试源和测试收集器 | 第25页 |
| ·测试访问机制 | 第25-26页 |
| ·测试壳 | 第26-27页 |
| ·SOC测试面临的挑战 | 第27-28页 |
| ·SOC测试数据压缩技术 | 第28-31页 |
| ·基本要求 | 第28-29页 |
| ·基本分类 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第三章 基于共前缀连续长度码的测试数据压缩和解压方法 | 第33-43页 |
| ·概述 | 第33页 |
| ·编码回顾 | 第33-37页 |
| ·编码分类 | 第33-35页 |
| ·Golomb码和FDR码 | 第35-37页 |
| ·CPRL编码压缩方案 | 第37-39页 |
| ·解码器的设计 | 第39-41页 |
| ·实验结果 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 对字部分重播种的测试数据压缩方法的研究和实现 | 第43-57页 |
| ·概述 | 第43页 |
| ·LFSR的基本原理 | 第43-45页 |
| ·移相器 | 第45-47页 |
| ·移相器的意义 | 第45-46页 |
| ·移相器的实现 | 第46-47页 |
| ·静态重播种和部分重播种 | 第47-50页 |
| ·静态重播种 | 第47-49页 |
| ·部分重播种 | 第49-50页 |
| ·对字部分重播种的压缩方案 | 第50-54页 |
| ·解压结构设计 | 第54-55页 |
| ·实验结果 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 研究生期间撰写的论文 | 第63页 |