时序电路测试生成算法研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-9页 |
第一章 绪论 | 第9-17页 |
·数字电路测试生成 | 第9-12页 |
·数字电路测试生成的发展 | 第9-10页 |
·时序电路测试分析 | 第10页 |
·时序电路获取测试集的方法 | 第10-12页 |
·基于模拟的时序电路ATPG 发展 | 第12-14页 |
·研究目标 | 第14-16页 |
·论文的研究内容与组织结构 | 第16-17页 |
第二章 时序电路测试生成的主要技术 | 第17-35页 |
·系统模型 | 第17-21页 |
·电路模型 | 第17-18页 |
·故障模型 | 第18-21页 |
·故障压缩技术 | 第21-25页 |
·故障等价 | 第21页 |
·单固定故障等价 | 第21-22页 |
·基本门的故障压缩 | 第22-23页 |
·故障支配 | 第23-24页 |
·电路中的等价故障 | 第24-25页 |
·故障压缩结果 | 第25页 |
·可测性分析 | 第25-29页 |
·故障模拟 | 第29-34页 |
·故障模拟技术 | 第29-31页 |
·HOPE 技术 | 第31-34页 |
·故障模拟的统计分析 | 第34页 |
·本章小结 | 第34-35页 |
第三章 基于蚂蚁算法和遗传算法的测试生成 | 第35-65页 |
·概述 | 第35-36页 |
·测试生成流程 | 第36-37页 |
·蚂蚁算法和遗传算法 | 第37-46页 |
·蚂蚁算法 | 第37-41页 |
·遗传算法 | 第41-46页 |
·基于蚂蚁算法和遗传算法的测试生成 | 第46-52页 |
·算法描述 | 第46-47页 |
·基于蚂蚁算法和遗传算法的初始化 | 第47-49页 |
·基于蚂蚁算法和遗传算法的测试矢量生成 | 第49-52页 |
·测试生成实现 | 第52-53页 |
·测试生成步骤 | 第52-53页 |
·基于蚂蚁算法的测试生成示例 | 第53页 |
·实验结果 | 第53-59页 |
·初始化实验结果 | 第53-55页 |
·基于蚂蚁算法的测试生成实验结果 | 第55-56页 |
·基于蚂蚁算法和遗传算法的测试生成结果 | 第56-59页 |
·时序电路测试矢量的静态压缩 | 第59-63页 |
·概述 | 第59-60页 |
·基于矢量删除的静态压缩 | 第60-62页 |
·实验结果 | 第62-63页 |
·本章小结 | 第63-65页 |
第四章 基于粒子群算法的时序电路测试生成 | 第65-79页 |
·粒子群优化算法 | 第65-70页 |
·粒子群算法基本原理 | 第65-68页 |
·粒子群算法的发展 | 第68-70页 |
·基于粒子群算法的时序电路测试生成 | 第70-74页 |
·自动测试生成粒子群模型 | 第71-72页 |
·测试生成步骤 | 第72-73页 |
·实验结果 | 第73-74页 |
·基于粒子群算法和蚂蚁算法的时序电路自动测试生成 | 第74-78页 |
·概述 | 第74-75页 |
·基于粒子群算法和蚂蚁算法的时序电路自动测试生成 | 第75-76页 |
·实验结果 | 第76-78页 |
·本章小结 | 第78-79页 |
第五章 基于模拟和确定性算法的测试生成 | 第79-91页 |
·概述 | 第79-80页 |
·SAT 算法简介 | 第80-82页 |
·SAT 问题概述 | 第80-81页 |
·可满足性问题的有关定义 | 第81页 |
·SAT 的算法 | 第81-82页 |
·可满足性测试生成的基本原理 | 第82-84页 |
·可满足性测试生成的基本原理 | 第82-83页 |
·基本门的CNF 范式 | 第83-84页 |
·基于模拟和SAT 的测试生成 | 第84-87页 |
·基于SAT 的时序电路测试生成 | 第84-85页 |
·布尔可满足性搜索算法 | 第85-86页 |
·基于模拟和SAT 的测试生成实现 | 第86-87页 |
·实验结果 | 第87-89页 |
·本章小结 | 第89-91页 |
第六章 MCM 互连测试的探针路径优化研究 | 第91-115页 |
·MCM 基板的互连测试方法 | 第91-94页 |
·单探针测试 | 第92页 |
·双探针测试 | 第92-93页 |
·单双探针混合测试的原理 | 第93-94页 |
·探针测试路径优化 | 第94-95页 |
·基于蚂蚁算法的探针测试路径优化 | 第95-107页 |
·定义 | 第96页 |
·蚂蚁算法求解单探针路径的数学模型 | 第96-99页 |
·基于蚂蚁算法的单探针测试路径优化实现 | 第99-103页 |
·参数仿真试验 | 第103-107页 |
·小结 | 第107页 |
·MCM 基板互连的探针测试策略和路径优化 | 第107-111页 |
·MCM 基板互连的探针测试和路径优化流程 | 第108-111页 |
·大规模 MCM 基板互连的探针测试路径优化 | 第111-112页 |
·探针测试路径优化算法的复杂度分析 | 第112-113页 |
·本章小结 | 第113-115页 |
第七章 结束语 | 第115-117页 |
参考文献 | 第117-127页 |
致谢 | 第127-129页 |
攻读博士学位其间的研究成果 | 第129-130页 |