多CCD扫描仪系统的图像几何校正与拼接
| 创新性声明 | 第1页 |
| 关于论文使用授权的说明 | 第2-3页 |
| 摘 要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-10页 |
| ·引言 | 第7-8页 |
| ·课题的提出 | 第8页 |
| ·论文的组织结构 | 第8-10页 |
| 第二章 多CCD 扫描仪构成及开发原理 | 第10-23页 |
| ·扫描仪的构成 | 第10-11页 |
| ·扫描仪的工作原理 | 第11-12页 |
| ·扫描仪的性能指标 | 第12-15页 |
| ·多CCD 扫描仪的构成 | 第15-16页 |
| ·软件接口标准―TWAIN 标准 | 第16-21页 |
| ·TWAIN 概述 | 第16页 |
| ·TWAIN 标准的基本组成 | 第16-17页 |
| ·TWAIN 标准的基本结构 | 第17-18页 |
| ·TWAIN 各部分之间的信息交换 | 第18-19页 |
| ·TWAIN 基于状态的协议 | 第19-20页 |
| ·TWAIN 的数据传输模式 | 第20-21页 |
| ·LM9833 开发包简介 | 第21-22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 扫描仪图像几何校正算法分析 | 第23-42页 |
| ·影响扫描仪几何精度的误差来源 | 第23-25页 |
| ·图像几何校正的方法 | 第25-33页 |
| ·图像几何变化的理论基础 | 第25-28页 |
| ·双线性变换的几何畸变模型 | 第28-29页 |
| ·双线性变换的优化 | 第29-30页 |
| ·灰度插值 | 第30-32页 |
| ·网格边界外区域处理 | 第32页 |
| ·控制点高精度识别 | 第32-33页 |
| ·图像亚像素定位技术 | 第33-38页 |
| ·亚像素定位原理及选用条件 | 第33-34页 |
| ·亚像素算法的选用条件 | 第34页 |
| ·数字相关亚像素定位法 | 第34-36页 |
| ·相关法的亚像素定位技术 | 第36-37页 |
| ·提高相关定位精度的措施 | 第37-38页 |
| ·提高相关运算速度的措施 | 第38页 |
| ·图像几何畸变校正流程 | 第38-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第四章 多CCD 扫描仪图像拼接算法分析 | 第42-57页 |
| ·多CCD 扫描仪的拼接形式 | 第42页 |
| ·拼接缝的确定算法 | 第42-45页 |
| ·扫描仪图像色差因素分析 | 第45-50页 |
| ·成像系统的噪声 | 第45-47页 |
| ·白平衡校正（机器平衡定标） | 第47-49页 |
| ·粗校正与精校正 | 第49-50页 |
| ·扫描仪色彩管理理论 | 第50-54页 |
| ·ICC 特性描述文件 | 第50-52页 |
| ·扫描仪的γ校正 | 第52-54页 |
| ·相邻图像色差调整 | 第54-56页 |
| ·显示器色彩校准 | 第54页 |
| ·相邻图像色差调整方法 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 结束语 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 在读期间发表论文 | 第65页 |
