| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| ·引言 | 第8-9页 |
| ·干涉成像光谱技术原理 | 第9-15页 |
| ·干涉仪和干涉图 | 第9-12页 |
| ·仪器线型函数与分辨率 | 第12-13页 |
| ·干涉图采样理论 | 第13-15页 |
| ·干涉成像光谱仪主要优点 | 第15页 |
| ·干涉成像光谱仪的调制度 | 第15-17页 |
| 参考文献 | 第17-18页 |
| 第二章 典型的干涉成像光谱仪 | 第18-32页 |
| ·时间调制干涉成像光谱仪 | 第18-23页 |
| ·Michelson干涉成像光谱仪 | 第18-19页 |
| ·基于高速转镜的高分辨率光谱仪 | 第19-21页 |
| ·Fabry-Perot干涉成像光谱仪 | 第21-23页 |
| ·空间调制干涉成像光谱仪 | 第23-28页 |
| ·Sagnac型干涉成像光谱仪 | 第23-25页 |
| ·双折射型干涉成像光谱仪 | 第25-28页 |
| ·小结 | 第28-30页 |
| 参考文献 | 第30-32页 |
| 第三章 典型干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第32-52页 |
| ·时间调制干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第32-39页 |
| ·Michelson干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第32-34页 |
| ·Fabry-Perot干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第34-39页 |
| ·空间调制干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第39-50页 |
| ·Sagnac型分光空间调制干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第39-41页 |
| ·双折射型干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第41-44页 |
| ·Lloyd分光空间调制干涉成像光谱仪调制度分析 | 第44-47页 |
| ·Fresnel双面镜分光空间调制干涉成像光谱仪调制度分析 | 第47-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-52页 |
| 第四章 新型干涉成像光谱仪的调制度分析 | 第52-67页 |
| ·LASIS的原理及调制度分析 | 第52-53页 |
| ·HEIFTS的原理及调制度分析 | 第53-64页 |
| ·HEIFTS原理简介 | 第53-54页 |
| ·Mach-Zehnder干涉仪和改进的Mach-Zehnder干涉仪 | 第54-55页 |
| ·齐明镜原理 | 第55-56页 |
| ·光程差计算 | 第56-58页 |
| ·探测器单元尺寸对干涉图调制度的影响 | 第58-60页 |
| ·两分束光像点不重合对干涉图调制度的影响 | 第60-62页 |
| ·像面与探测器平面不重合产生的误差对干涉图的影响 | 第62-64页 |
| ·干涉图调制度 | 第64页 |
| ·小结 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-67页 |
| 第五章 总结 | 第67-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
