摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第1章 引言 | 第10-16页 |
·现场X荧光分析技术与仪器的研究现状 | 第10-12页 |
·国外研究现状 | 第10-11页 |
·国内研究现状 | 第11-12页 |
·地质、矿产勘查领域对X荧光探测系统的技术要求 | 第12-13页 |
·研究课题来源 | 第13-14页 |
·选题依据与研究意义 | 第14-15页 |
·主要研究内容 | 第15-16页 |
第2章 基本原理与总体设计思路 | 第16-20页 |
·X荧光分析的基本原理 | 第16-17页 |
·现场X荧光探测系统的工作原理 | 第17页 |
·系统总体设计思路 | 第17-20页 |
第3章 X荧光探头设计 | 第20-30页 |
·探测器选型 | 第20-22页 |
·激发源的选择 | 第22-24页 |
·“源-样-探”几何设计 | 第24-26页 |
·“源-样-探”的理想模型 | 第24-25页 |
·激发源的布置 | 第25-26页 |
·样品位置、面积与厚度要求 | 第26-28页 |
·荧光探头封装设计 | 第28-30页 |
第4章 电子学单元的研制 | 第30-58页 |
·无变压器式SI-PIN探测器高压偏置电源的研制 | 第30-36页 |
·设计思路 | 第30-31页 |
·无变压器式高压偏置电源结构与基本工作原理 | 第31页 |
·电路设计与参数确定 | 第31-33页 |
·高压偏置电源性能测试 | 第33-36页 |
·开关型温控致冷电源的设计与实现 | 第36-38页 |
·温控致冷电路方案 | 第36-37页 |
·温控致冷电路控制特性分析 | 第37-38页 |
·掌上型SI-PIN探测器电源系统 | 第38-39页 |
·成形放大器的设计 | 第39-48页 |
·最佳滤波器讨论 | 第39-42页 |
·成形放大器的结构与单元电路设计 | 第42-46页 |
·成形放大器的原理图与波形测试 | 第46-48页 |
·袖珍型多道分析器的研制 | 第48-53页 |
·基本构成与工作原理 | 第48-49页 |
·脉冲峰值检测电路 | 第49-50页 |
·MCA工作时序 | 第50-51页 |
·微控制器在MCA中的应用 | 第51页 |
·模拟SPI总线时序实现ADC接口 | 第51-52页 |
·MCA的PCB设计 | 第52页 |
·MCA的主要性能指标 | 第52-53页 |
·基于嵌入式PC/104微机的谱数据处理系统 | 第53-58页 |
·谱数据处理机选型 | 第53页 |
·PC/104微机简介 | 第53-54页 |
·PC/104与图形点阵LCD接口 | 第54-56页 |
·GAL专用键盘开发 | 第56-58页 |
第5章 多道谱数据处理与软件实现 | 第58-70页 |
·特征峰软件稳谱技术 | 第58-62页 |
·谱漂监测特征峰选取 | 第59页 |
·谱线光滑 | 第59页 |
·软件寻峰 | 第59-61页 |
·谱漂量确定与谱漂校正 | 第61-62页 |
·谱漂校正效果测试 | 第62页 |
·能量刻度与元素识别 | 第62-63页 |
·峰面积计算 | 第63-65页 |
·现场数据处理与含量输出 | 第65-66页 |
·数据处理流程 | 第65页 |
·工作曲线确定 | 第65-66页 |
·汉字下拉菜单界面软件开发 | 第66-70页 |
·汉字显示 | 第66页 |
·菜单编写 | 第66-67页 |
·下拉菜单 | 第67-68页 |
·谱线缩放显示 | 第68-69页 |
·软件功能结构 | 第69-70页 |
第6章 性能指标测试与评价 | 第70-80页 |
·基本技术指标 | 第70-71页 |
·能量分辨率、能量测量范围与能量非线性 | 第71页 |
·检出限 | 第71-73页 |
·测量精确度评价 | 第73-74页 |
·测量准确度评价 | 第74-76页 |
·长期稳定性 | 第76-77页 |
·与国外同类产品比较 | 第77-80页 |
第7章 应用效果 | 第80-89页 |
·参加国际地质分析协会比对分析 | 第80-83页 |
·在地质普查中的应用 | 第83-85页 |
·驻地快速测定分析准确度评价 | 第83-84页 |
·异常追索查证 | 第84-85页 |
·应用效果小结 | 第85页 |
·在铜钴矿快速测定中的应用 | 第85-89页 |
·样品概况与定性分析 | 第85页 |
·快速测定方法 | 第85-86页 |
·分析结果讨论 | 第86-88页 |
·应用效果小结 | 第88-89页 |
结论 | 第89-91页 |
致谢 | 第91-92页 |
参考文献 | 第92-95页 |
附录 | 第95-104页 |
附录1 “硕博连读”期间发表论文及被SCI、EI收录情况 | 第95-96页 |
附录2 中国测试技术研究院检测报告 | 第96-98页 |
附录3 中国地质调查局审查意见书 | 第98-100页 |
附录4 相关研究成果国家专利证书 | 第100-101页 |
附录5 相关研究成果获奖证书 | 第101-102页 |
附录6 仪器样机及其应用工作照片 | 第102-104页 |