| 第1章 绪论 | 第1-15页 |
| ·智能仪器概述 | 第8-12页 |
| ·智能仪器的发展概况 | 第8-9页 |
| ·智能仪器的特点 | 第9-11页 |
| ·智能仪器的基本结构 | 第11-12页 |
| ·国内外电能质量监测仪的研制现状 | 第12-14页 |
| ·国内电能质量监测仪 | 第12-13页 |
| ·国外电能质量监测仪 | 第13-14页 |
| ·本论文研究的对象和内容 | 第14-15页 |
| 第2章 ARM嵌入式微处理器概述 | 第15-31页 |
| ·嵌入式技术概念、发展现状及发展前景 | 第15-16页 |
| ·嵌入式系统概念 | 第15页 |
| ·嵌入式技术发展现状 | 第15-16页 |
| ·嵌入式技术发展前景 | 第16页 |
| ·ARM嵌入式微处理器概述 | 第16-23页 |
| ·ARM概述 | 第16-17页 |
| ·ARM微处理器系列 | 第17-21页 |
| ·ARM微处理器的结构 | 第21-23页 |
| ·TMS320VC5470 | 第23-31页 |
| ·TMS320VC5470特性及功能框图 | 第24页 |
| ·DSP子系统功能介绍 | 第24-27页 |
| ·MCU子系统功能介绍 | 第27-31页 |
| 第3章 电力参数测量及计算原理 | 第31-37页 |
| ·电力参数的直流采样算法 | 第31页 |
| ·电力参数的交流采样算法 | 第31-33页 |
| ·半周期积分法 | 第31-32页 |
| ·非正弦周期函数算法 | 第32页 |
| ·傅立叶(Fourier)算法 | 第32-33页 |
| ·基于FFT的电力参数测量 | 第33-37页 |
| ·基2—FFT原理 | 第33-35页 |
| ·电力参数测量原理 | 第35-37页 |
| 第4章 系统硬件的总体设计 | 第37-49页 |
| ·数据采集单元 | 第37-41页 |
| ·实现同步采样的方法 | 第38页 |
| ·模拟输入信号 | 第38页 |
| ·抗混叠滤波 | 第38-39页 |
| ·采样和A／D | 第39-41页 |
| ·数据处理单元 | 第41-42页 |
| ·主机控制单元 | 第42页 |
| ·人机接口单元 | 第42-49页 |
| ·键盘接口 | 第42-43页 |
| ·显示接口 | 第43-44页 |
| ·通信接口 | 第44-45页 |
| ·存储器的扩展 | 第45-47页 |
| ·复位电路、电源电路和晶振 | 第47-49页 |
| 第5章 嵌入式实时操作系统MC／OS-Ⅱ在TMS320VC547X上的移植 | 第49-55页 |
| ·MC／OS-Ⅱ简介 | 第49-50页 |
| ·移植的规划 | 第50页 |
| ·编译环境的选择 | 第50页 |
| ·μC／OS-Ⅱ任务运行模式的选择 | 第50页 |
| ·MC／OS-Ⅱ在TMS320VC547x上的移植 | 第50-52页 |
| ·OS_CPU.H | 第50页 |
| ·OS_CPU_A.ASM | 第50-51页 |
| ·OS_CPU_C.C | 第51-52页 |
| ·底层驱动程序 | 第52-55页 |
| ·DSP单元的软件设计 | 第53-54页 |
| ·MCU单元和人机接口单元的软件设计 | 第54-55页 |
| 第6章 结论 | 第55-56页 |
| ·结论 | 第55页 |
| ·本文的不足及展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 在读期间发表的学术论文 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |