| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-8页 |
| 第一章 概 述 | 第8-15页 |
| ·光纤通信 | 第8页 |
| ·甚短距离(VSR)光传输技术 | 第8-12页 |
| ·单路光接收机系统简介 | 第12-13页 |
| ·光接收机性能指标 | 第13页 |
| ·工艺选择 | 第13-14页 |
| ·论文组织 | 第14-15页 |
| 第二章 前置放大器的分析与设计 | 第15-29页 |
| ·引言 | 第15页 |
| ·光检测器 | 第15-17页 |
| ·PD的工作原理 | 第15-16页 |
| ·PD的特性参数 | 第16-17页 |
| ·前置放大器的噪声特性 | 第17-19页 |
| ·热噪声 | 第17-18页 |
| ·散弹噪声 | 第18页 |
| ·闪烁噪声 | 第18-19页 |
| ·前置放大器电路结构类型 | 第19-24页 |
| ·共栅前置放大器 | 第19-22页 |
| ·共源跨阻前置放大器 | 第22-24页 |
| ·前置放大器的设计 | 第24-29页 |
| ·电路指标定义 | 第24页 |
| ·电路设计 | 第24-25页 |
| ·电路模拟结果 | 第25-29页 |
| 第三章 主放大器的分析与设计 | 第29-51页 |
| ·主放大器概述 | 第29页 |
| ·主放大器类型选择 | 第29-34页 |
| ·AGC放大器 | 第29-31页 |
| ·限幅放大器 | 第31-33页 |
| ·限幅放大器和AGC放大器的对比 | 第33-34页 |
| ·CMOS限幅放大器的设计 | 第34-51页 |
| ·放大器的频响特性 | 第34-35页 |
| ·各种限幅放大器电路结构的比较 | 第35-43页 |
| ·有源电感负载限幅放大器系统结构 | 第43页 |
| ·有源电感负载限幅放大器单元电路设计 | 第43-46页 |
| ·有源电感负载限幅放大器模拟结果 | 第46-51页 |
| 第四章 单片集成前端放大电路的设计 | 第51-58页 |
| ·引言 | 第51页 |
| ·系统结构 | 第51页 |
| ·接口电路设计 | 第51-53页 |
| ·单端-双端转换电路 | 第51-52页 |
| ·线性有源电阻 | 第52-53页 |
| ·模拟结果 | 第53-58页 |
| ·单路1.25Gb/s光接收前端放大电路模拟结果 | 第54-56页 |
| ·单路2.5Gb/s光接收前端放大电路模拟结果 | 第56-58页 |
| 第五章 时钟恢复电路的分析和设计 | 第58-74页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·非归零(NRZ)数据信号特性 | 第58-59页 |
| ·时钟恢复电路类型 | 第59-67页 |
| ·开环时钟恢复电路 | 第59-61页 |
| ·锁相时钟恢复电路 | 第61-67页 |
| ·时钟恢复电路设计 | 第67-72页 |
| ·Pottbacker PD/FD | 第68-70页 |
| ·振荡器 | 第70-72页 |
| ·环路滤波器 | 第72页 |
| ·电路模拟结果 | 第72-74页 |
| 第六章 版图设计 | 第74-79页 |
| ·概述 | 第74页 |
| ·版图设计的考虑因素 | 第74-76页 |
| ·寄生电容 | 第74-75页 |
| ·闩锁效应 | 第75页 |
| ·衬底串扰噪声 | 第75页 |
| ·天线效应 | 第75页 |
| ·线电流密度 | 第75页 |
| ·其它因素 | 第75-76页 |
| ·单片集成12阵列光接收前端放大电路版图设计 | 第76-79页 |
| 第七章 芯片测试 | 第79-96页 |
| ·测试仪器简介 | 第79页 |
| ·限幅放大器的测试 | 第79-83页 |
| ·有源电感负载CMOS限幅放大器 | 第79-82页 |
| ·源极跟随器缓冲CMOS限幅放大器 | 第82-83页 |
| ·单片集成1.25Gb/s单路前端放大电路的测试 | 第83-87页 |
| ·芯片照片 | 第83页 |
| ·测试系统框图 | 第83-84页 |
| ·光探测器的性能 | 第84-86页 |
| ·测试结果 | 第86-87页 |
| ·单片集成2.5Gb/s单路前端放大电路的测试 | 第87-88页 |
| ·芯片照片 | 第87-88页 |
| ·电测试结果 | 第88页 |
| ·单片集成12路并行1.25Gb/s前端放大电路的测试 | 第88-90页 |
| ·芯片照片 | 第88-89页 |
| ·测试结果 | 第89-90页 |
| ·时钟恢复电路的测试 | 第90-96页 |
| ·芯片测试的流程 | 第90页 |
| ·测试基座和测试盒的设计 | 第90-91页 |
| ·芯片测试结果 | 第91-95页 |
| ·测试结果分析 | 第95-96页 |
| 第八章 总结 | 第96-98页 |
| 参考文献 | 第98-100页 |
| 致 谢 | 第100页 |