基于相敏解调的电容耦合电阻层析成像系统研究
| 致谢 | 第1-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| 英文摘要 | 第8-9页 |
| 目录 | 第9-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| ·两相流概述 | 第12页 |
| ·过程层析成像技术 | 第12-13页 |
| ·电容耦合非接触式电导检测方法简介 | 第13-14页 |
| ·本文的主要工作 | 第14-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 文献综述 | 第16-25页 |
| ·ERT技术综述 | 第17-22页 |
| ·ERT技术的发展历程与研究现状 | 第17-18页 |
| ·ERT技术的基本原理和组成 | 第18-19页 |
| ·ERT数据采集模式 | 第19-22页 |
| ·C~4D的测量原理及应用 | 第22-24页 |
| ·C~4D测量原理 | 第22-23页 |
| ·C~4D系统构成 | 第23-24页 |
| ·C~4D方法的应用与现状 | 第24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 电容耦合电阻层析成像研究 | 第25-37页 |
| ·概述 | 第26-27页 |
| ·C~4D测量可行性研究 | 第27-30页 |
| ·传感器样机设计 | 第27-28页 |
| ·可行性实验及结果分析 | 第28-30页 |
| ·CCERT测量方法研究 | 第30-36页 |
| ·现有基于C~4D原理测量串联RC网络的方法简介 | 第31-33页 |
| ·基于PSD原理的CCERT测量方法 | 第33-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 基于PSD的CCERT系统设计 | 第37-60页 |
| ·基于PSD的CCERT系统总体构架 | 第38页 |
| ·传感器设计 | 第38-39页 |
| ·系统硬件设计 | 第39-53页 |
| ·正弦激励模块设计 | 第39-46页 |
| ·正弦激励源选择 | 第39-41页 |
| ·AD9850芯片介绍 | 第41-43页 |
| ·正弦激励模块设计 | 第43-46页 |
| ·相敏解调测量模块设计 | 第46-51页 |
| ·相敏解调测量模块工作模式 | 第46-48页 |
| ·电子开关控制设计 | 第48页 |
| ·乘法器电路设计 | 第48-50页 |
| ·运算放大及滤波电路设计 | 第50-51页 |
| ·数据采集模块 | 第51-53页 |
| ·系统软件设计 | 第53-59页 |
| ·主程序设计 | 第53-54页 |
| ·DDS芯片配置程序 | 第54-57页 |
| ·数据采集子程序 | 第57-59页 |
| ·本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 系统性能分析 | 第60-67页 |
| ·基于PSD的CCERT系统实验装置描述 | 第61页 |
| ·实时性分析 | 第61-63页 |
| ·测量精度测试 | 第63-64页 |
| ·在线成像效果 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 第六章 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-75页 |
| 作者简介 | 第75页 |
