| 中文摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-40页 |
| 1．1 本文的研究内容及其意义和应用前景 | 第11-12页 |
| 1．2 光测力学和三维形貌光测法及条纹图全场自动分析研究进展 | 第12-18页 |
| 1．2．1 光测力学的研究概况与发展动向 | 第12-13页 |
| 1．2．2 光测力学条纹图全场自动分析研究概况和发展趋势 | 第13-16页 |
| 1．2．3 三维形貌光测的研究概况和发展趋势 | 第16-18页 |
| 1．3 光测力学与三维形貌光测法中条纹图信号及图像处理技术的研究与发展 | 第18-24页 |
| 1．3．1 滤波 | 第18-20页 |
| 1．3．2 细化 | 第20-21页 |
| 1．3．3 确定条纹级次 | 第21页 |
| 1．3．4 相位检测技术 | 第21-23页 |
| 1．3．5 叠相还原 | 第23-24页 |
| 1．4 本文的主要工作 | 第24-25页 |
| 1．5 论文的组织机构 | 第25-26页 |
| 参考文献 | 第26-40页 |
| 第二章 散斑和电子散斑剪切干涉的条纹图 | 第40-47页 |
| 2．1 光楔散斑剪切干涉法的基本原理 | 第40-41页 |
| 2．2 条纹形成分析 | 第41-44页 |
| 2．2．1 双曝光成像时的条纹 | 第41-43页 |
| 2．2．2 光电子器件成像干涉法的条纹 | 第43-44页 |
| 2．3 感光材料全息干板记录的与光电子记录的条纹比较 | 第44-46页 |
| 参考文献 | 第46-47页 |
| 第三章 贝叶斯准则与光测干涉条纹图统计处理方法的研究 | 第47-74页 |
| 3．1 统计学的估计准则 | 第47-50页 |
| 3．1．1 Bayes估计 | 第48页 |
| 3．1．2 代价函数 | 第48-49页 |
| 3．1．3 最小均方估计 | 第49页 |
| 3．1．4 最大后验概率估计 | 第49页 |
| 3．1．5 马尔可夫（Markov）空间场 | 第49-50页 |
| 3．2 基于贝叶斯估计准则的光测干涉条纹图的处理方法研究 | 第50-54页 |
| 3．2．1 统计滤波 | 第50-52页 |
| 3．2．2 光测干涉条纹图的相位恢复原理 | 第52-54页 |
| 3．2．2．1 光测条纹图的条纹方位场和方向场的估计与调整 | 第52-53页 |
| 3．2．2．2 光测条纹图的条纹空间频率场的估计与调整 | 第53-54页 |
| 3．3 计算机模拟仿真结果 | 第54-58页 |
| 3．3．1 计算机模拟的条纹图 | 第54-55页 |
| 3．3．2 模拟条纹图的处理 | 第55-58页 |
| 3．3．3 理论值与模拟的条纹图相位解调值比较 | 第58页 |
| 3．4 实验结果 | 第58-70页 |
| 3．4．1 全息干板记录的散斑条纹图处理 | 第58-62页 |
| 3．4．2 光电器件记录散斑条纹图的处理 | 第62-65页 |
| 3．4．3 面内云纹条纹图 | 第65-66页 |
| 3．4．4 离面云纹图 | 第66-70页 |
| 3．4．4．1 平行光照射基准栅与点接收的光场 | 第66-67页 |
| 3．4．4．2 点光源与观测点到基准栅等距的光场 | 第67-69页 |
| 3．4．4．3 点光源投影基准栅与点接收光场 | 第69页 |
| 3．4．4．4 离面云纹条纹图的相位全场显示 | 第69-70页 |
| 3．5 小结 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-74页 |
| 第四章 最优梯度法在光测条纹统计处理中的应用与改进 | 第74-82页 |
| 4．1 高斯-塞德尔（Gause-Seidel）迭代法与SOR迭代法 | 第74-76页 |
| 4．1．1 高斯-塞德尔迭代法 | 第74-75页 |
| 4．1．2 逐次超松弛（Successive OverRelaxation）迭代法 | 第75-76页 |
| 4．2 无约束最优化算法 | 第76-79页 |
| 4．2．1 最优梯度法 | 第76-78页 |
| 4．2．2 共轭梯度法（Conjugate-gradient Method） | 第78-79页 |
| 4．3 最优梯度法的改进 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-82页 |
| 第五章 卷积滤波三维形貌光测智能化检测方法的应用研究 | 第82-104页 |
| 5．1 投影光栅相位法检测物体表面三维形貌的光测原理 | 第82-86页 |
| 5．1．1 光学主轴相交且非远心的投影系统及其检测方法原理 | 第82-85页 |
| 5．1．1．1 光学测量系统 | 第82-83页 |
| 5．1．1．2 参考平面上条纹与物体表面上畸变条纹的Fourier分析 | 第83-85页 |
| 5．1．2 提高相位解调精度 | 第85-86页 |
| 5．1．3 计算公式的理论修改 | 第86页 |
| 5．2 频谱自动移位的方法 | 第86-87页 |
| 5．2．1 频谱移位原理 | 第86页 |
| 5．2．2 栅线空间频率的计算 | 第86-87页 |
| 5．3 卷积滤波技术 | 第87-93页 |
| 5．3．1 卷积 | 第88-89页 |
| 5．3．2 FIR滤波器 | 第89-90页 |
| 5．3．3 线性相位FIR滤波器的特性 | 第90-91页 |
| 5．3．4 线性相位FIR滤波器的频率响应 | 第91页 |
| 5．3．5 线性相位FIR滤波器的设计方法 | 第91-93页 |
| 5．4 模拟投影条纹分析与实验分析 | 第93-99页 |
| 5．4．1 模拟投影条纹分析 | 第94-96页 |
| 5．4．2 实验结果 | 第96-99页 |
| 5．5 投影光栅相位法测量范围及测量误差分析 | 第99-102页 |
| 5．6 结束语 | 第102页 |
| 参考文献 | 第102-104页 |
| 第六章 模型外载与自重并存变动外载的光弹性分析法 | 第104-119页 |
| 6．1 结构模型光弹性分析中重力载荷的传统处理方法 | 第104-106页 |
| 6．2 本文方法的基本原理 | 第106-107页 |
| 6．3 实验验证 | 第107-114页 |
| 6．3．1 试件 | 第107-108页 |
| 6．3．2 试件受离心力和均布载荷共同作用 | 第108页 |
| 6．3．3 试件受离心力和集中力共同作用 | 第108-109页 |
| 6．3．4 试件受离心力和横向压力弯曲共同作用 | 第109-114页 |
| 6．4 工程应用 | 第114-117页 |
| 6．5 结束语 | 第117页 |
| 参考文献 | 第117-119页 |
| 第七章 结论与展望 | 第119-122页 |
| 7．1 结论 | 第119-120页 |
| 7．2 展望 | 第120-122页 |
| 创新点摘要 | 第122-123页 |
| 附录 | 第123-124页 |
| 致谢 | 第124页 |
