GaAs光电阴极材料光电压谱测试技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-12页 |
| ·GaAs光电阴极的发展及应用 | 第7-9页 |
| ·国内外对GaAs光电阴极材料测评的研究现状 | 第9-10页 |
| ·表面光电压及其测试技术简介 | 第10-11页 |
| ·本文的主要工作 | 第11-12页 |
| 2 GaAs光电阴极的性能参数及评估理论研究 | 第12-22页 |
| ·GaAs光电阴极的结构与激活 | 第12-14页 |
| ·GaAs光电阴极的结构 | 第12-14页 |
| ·GaAs光电阴极的激活工艺 | 第14页 |
| ·GaAs光电阴极的性能参量描述 | 第14-16页 |
| ·光谱响应法对GaAs光电阴极性能参量的评估 | 第16-22页 |
| ·光谱响应的定义 | 第16-17页 |
| ·影响量子产额的因素 | 第17-19页 |
| ·GaAs光电阴极性能参量的评估理论 | 第19-22页 |
| 3 表面光伏法评测GaAs光阴极性能参数原理研究 | 第22-33页 |
| ·表面光伏的产生 | 第22-24页 |
| ·漂移引起的光伏 | 第22-23页 |
| ·扩散引起的光伏 | 第23-24页 |
| ·GaAs光阴极性的表面光伏 | 第24页 |
| ·表面光电压测试技术 | 第24-25页 |
| ·GaAs光阴极性少子扩散长度的理论推导 | 第25-32页 |
| ·GaAs光阴极性表面光电压的理论推导 | 第25-29页 |
| ·三种SPV法测定少子扩散长度 | 第29-32页 |
| ·光伏谱的拟合计算 | 第32-33页 |
| 4 光电压谱测试系统研制 | 第33-57页 |
| ·光电压谱测试仪国内外的研制状况 | 第33-34页 |
| ·光电压谱测试系统的硬件结构 | 第34-41页 |
| ·光源及光源电源 | 第34-35页 |
| ·斩光器 | 第35页 |
| ·光栅单色仪及扫描控制器 | 第35-36页 |
| ·光电压池的设计 | 第36-37页 |
| ·微弱信号处理模块 | 第37-40页 |
| ·计算机系统 | 第40-41页 |
| ·光电压谱测试系统的软件研制 | 第41-54页 |
| ·开发工具的选择 | 第41-42页 |
| ·测试系统的界面 | 第42-44页 |
| ·PC机与光栅单色仪微机控制器之间的通信 | 第44-52页 |
| ·PC机与锁定放大器之间的通信 | 第52-54页 |
| ·光电压谱测试中的抗干扰技术研究 | 第54-55页 |
| ·实验结果 | 第55-57页 |
| 5 结束语 | 第57-58页 |
| ·本论文的工作总结 | 第57页 |
| ·有待进一步进行的工作 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 攻读硕士期间发表或被录用的论文 | 第62页 |
