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SECS/GEM在半导体生产计算机集成制造系统中的应用研究

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-9页
第1章 绪论第9-18页
   ·引言第9-12页
     ·计算机集成制造系统的定义第10-11页
     ·半导体制造后段自动化系统的结构第11-12页
     ·项目背景第12页
   ·半导体制造自动化发展现状第12-15页
     ·推动半导体制造自动化发展的主要因素第12-13页
     ·半导体制造自动化发展历史及现状第13-14页
     ·半导体制造自动化所带来的好处第14-15页
   ·半导体制造自动化系统存在的主要问题第15-16页
   ·半导体制造自动化生产线总体设计思路第16页
   ·本文的主要工作及论文结构第16-18页
第2章 半导体自动化生产线总体设计第18-27页
   ·半导体制造自动化系统需求分析第18-20页
   ·硬件设计第20-21页
   ·软件设计第21-26页
     ·LOT跟踪第22-24页
     ·缺陷管理第24-25页
     ·配方管理第25-26页
   ·小结第26-27页
第3章 半导体设备通讯标准SECS/GEM介绍第27-41页
   ·SECS/GEM标准的由来第27页
   ·SECS/GEM标准框架第27-28页
   ·SECS/GEM标准分层介绍第28-40页
     ·SECS Ⅰ标准第28-32页
     ·SECS Ⅱ标准第32-39页
     ·GEM标准第39-40页
   ·小结第40-41页
第4章 SECS/GEM软件设计第41-71页
   ·SECS/GEM软件总体设计第41页
   ·SECS Ⅰ设计第41-48页
     ·SECS Ⅰ初始化通讯端口第41-42页
     ·SECS Ⅰ接收消息的处理第42-46页
     ·SECS Ⅰ发送消息的处理第46-48页
   ·SECS Ⅱ设计第48-56页
     ·Stream 1 Functions:S1F3,S1F4第48-49页
     ·Stream 5 Functions:AlarmO第49-52页
     ·Stream 6 Functions:S6F11,S6F13第52-55页
     ·Stream 2 Functions:S2F23第55-56页
     ·Stream 10 Functions:S10F1,S10F2第56页
   ·GEM设计第56-70页
     ·通信状态模型第56-57页
     ·控制状态模型第57-58页
     ·设备处理状态模型第58-59页
     ·GEM程序的实现第59-61页
     ·部分GEM能力的说明第61-63页
     ·事件格式的定义第63-70页
   ·小结第70-71页
第5章 结论与展望第71-73页
   ·结论第71-72页
   ·展望第72-73页
参考文献第73-76页
附录第76-77页
致谢第77-78页
攻读学位期间参加的科研项目和成果第78页

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