| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第13-23页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第13页 |
| 1.2 CT技术概述 | 第13-17页 |
| 1.2.1 CT成像基本原理 | 第14-16页 |
| 1.2.2 CT图像伪影校正 | 第16-17页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第17-21页 |
| 1.3.1 环状伪影校正技术 | 第17-20页 |
| 1.3.2 硬化伪影校正技术 | 第20-21页 |
| 1.4 课题研究内容与论文结构安排 | 第21-23页 |
| 第二章 线性回归分析CT图像环状伪影校正方法 | 第23-37页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 CT图像环状伪影研究 | 第23-28页 |
| 2.2.1 环状伪影成因 | 第23-26页 |
| 2.2.2 环状伪影表现及影响 | 第26-28页 |
| 2.3 基于线性回归分析的CT图像环状伪影校正方法 | 第28-31页 |
| 2.3.1 响应特性分析及探元分类 | 第28-30页 |
| 2.3.2 坏点检测及校正 | 第30页 |
| 2.3.3 响应一致性校正 | 第30-31页 |
| 2.4 实验结果及分析 | 第31-35页 |
| 2.5 本章小结 | 第35-37页 |
| 第三章 能谱预过滤CT图像硬化伪影校正方法 | 第37-53页 |
| 3.1 引言 | 第37-38页 |
| 3.2 CT图像硬化伪影研究 | 第38-41页 |
| 3.2.1 硬化伪影成因 | 第38-40页 |
| 3.2.2 硬化伪影表现及影响 | 第40-41页 |
| 3.3 基于有效能谱的CT图像硬化伪影校正方法 | 第41-45页 |
| 3.3.1 滤波片选取原则 | 第42-43页 |
| 3.3.2 有效能谱获取策略 | 第43-45页 |
| 3.4 实验结果及分析 | 第45-50页 |
| 3.5 本章小结 | 第50-53页 |
| 第四章 工业局部CT图像硬化伪影校正方法 | 第53-63页 |
| 4.1 引言 | 第53页 |
| 4.2 局部CT硬化伪影校正问题研究 | 第53-57页 |
| 4.2.1 局部CT硬化校正需求 | 第53-55页 |
| 4.2.2 投影数据截断对硬化校正影响 | 第55-57页 |
| 4.3 基于Radon逆变换的局部CT指数型硬化伪影校正方法 | 第57-60页 |
| 4.4 实验结果及分析 | 第60-62页 |
| 4.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 5.1 全文总结 | 第63页 |
| 5.2 工作展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-73页 |
| 作者简历 | 第73页 |