阵列基座平面度测量系统关键技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题的研究背景及来源 | 第10-11页 |
| ·国内外发展概况 | 第11-14页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第14-16页 |
| 第2章 平面度基本理论 | 第16-34页 |
| ·平面度误差的定义及测量方法 | 第16-17页 |
| ·平面度误差的定义 | 第16页 |
| ·平面度误差的测量方法 | 第16-17页 |
| ·平面度误差的评定方法 | 第17-25页 |
| ·对角线法 | 第17-18页 |
| ·三远点法 | 第18-20页 |
| ·最小二乘法 | 第20-23页 |
| ·最小条件判别法 | 第23-25页 |
| ·基于最小条件准则的计算机精确算法 | 第25-34页 |
| ·对各采样点的偏差值分区排序 | 第25-26页 |
| ·初始评定平面、评定直线、评定点的选择 | 第26-27页 |
| ·判别准则的初步判别 | 第27-28页 |
| ·评定原理及方法 | 第28-34页 |
| 第3章 测量系统硬件设计 | 第34-52页 |
| ·检测系统的硬件概述 | 第34-38页 |
| ·激光扫描平面度测量分系统 | 第34-35页 |
| ·在线平面度测量分系统 | 第35-38页 |
| ·测量平面度误差的布点 | 第38-42页 |
| ·矩形布点 | 第38-40页 |
| ·圆(环)形布点 | 第40-41页 |
| ·阵列基座布点 | 第41-42页 |
| ·平面度误差的测量方法 | 第42-44页 |
| ·离线平面度测量 | 第42-44页 |
| ·在线平面度测量 | 第44页 |
| ·阵列基座平面度的测量方法 | 第44-49页 |
| ·"三点法"数据拼接原理 | 第45-46页 |
| ·拼接过程 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-52页 |
| 第4章 系统软件设计 | 第52-70页 |
| ·系统软件设计框架 | 第52-55页 |
| ·基于最小条件准则的评估算法实现 | 第55-58页 |
| ·算法程序框架 | 第55-56页 |
| ·算法评定程序流程图 | 第56-58页 |
| ·数据处理的软件实现 | 第58-65页 |
| ·Visual C++系统概述 | 第58页 |
| ·单一图形 | 第58-61页 |
| ·组合图形 | 第61-62页 |
| ·在线平面度误差测量 | 第62-65页 |
| ·基于OpenGL的三维数据显示 | 第65-68页 |
| ·OpenGL概述 | 第65-66页 |
| ·VC++中利用MFC进行OpenGL编程 | 第66-67页 |
| ·OpenGL可视化评定结果 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 第5章 系统实验测试及其分析 | 第70-76页 |
| ·测量系统实验室测试 | 第70-74页 |
| ·测量误差分析 | 第74-76页 |
| 结论 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 研究生履历 | 第84-85页 |
