| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 两相流概述 | 第12页 |
| 1.2 过程层析成像技术介绍 | 第12-13页 |
| 1.3 数据挖掘技术简介 | 第13-14页 |
| 1.4 电容耦合非接触电导检测技术简介 | 第14页 |
| 1.5 本文主要工作和结构安排 | 第14-16页 |
| 1.6 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 文献综述 | 第17-35页 |
| 2.1 C4D技术综述 | 第18-23页 |
| 2.1.1 C4D技术原理 | 第18页 |
| 2.1.2 C4D系统的构成 | 第18-20页 |
| 2.1.3 C4D技术的发展与研究现状 | 第20-23页 |
| 2.2 CCERT技术综述 | 第23-26页 |
| 2.2.1 ERT技术简介 | 第23-24页 |
| 2.2.2 CCERT技术原理与系统构成 | 第24-26页 |
| 2.3 气液两相流流型辨识和空隙率测量方法 | 第26-30页 |
| 2.3.1 气液两相流流型辨识方法 | 第26-28页 |
| 2.3.2 气液两相流空隙率测量方法 | 第28-30页 |
| 2.4 数据挖掘与分析方法 | 第30-33页 |
| 2.4.1 主成分分析 | 第30-31页 |
| 2.4.2 K-Means算法 | 第31页 |
| 2.4.3 KNN算法 | 第31-32页 |
| 2.4.4 岭回归方法 | 第32页 |
| 2.4.5 偏最小二乘回归方法 | 第32-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 基于DPSD的工业化CCERT系统原理与设计 | 第35-49页 |
| 3.1 基于DPSD的工业化CCERT系统的总体架构与传感器结构 | 第36-38页 |
| 3.1.1 基于DPSD的工业化CCERT系统架构 | 第36-37页 |
| 3.1.2 传感器结构 | 第37-38页 |
| 3.2 基于DPSD的工业化CCERT系统测量原理 | 第38-40页 |
| 3.3 系统硬件设计 | 第40-45页 |
| 3.3.1 激励与检测模块 | 第41-43页 |
| 3.3.2 电源模块 | 第43页 |
| 3.3.3 FPGA模块 | 第43-45页 |
| 3.3.4 DSP模块 | 第45页 |
| 3.4 系统软件设计 | 第45-48页 |
| 3.4.1 下位机程序设计 | 第46-47页 |
| 3.4.2 数据采集模块程序设计 | 第47-48页 |
| 3.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 基于CCERT系统的气液两相流流型辨识 | 第49-61页 |
| 4.1 引言 | 第50-51页 |
| 4.2 气液两相流流型辨识系统构成与技术路线 | 第51-52页 |
| 4.2.1 流型辨识系统构成 | 第51页 |
| 4.2.2 流型辨识技术路线 | 第51-52页 |
| 4.3 气液两相流流型辨识方法 | 第52-55页 |
| 4.3.1 基于PCA的流型特征提取 | 第52-53页 |
| 4.3.2 基于K-Means的流型辨识方法 | 第53-54页 |
| 4.3.3 基于KNN的流型辨识方法 | 第54-55页 |
| 4.4 气液两相流流型辨识实验 | 第55-60页 |
| 4.4.1 气液两相流流型辨识静态实验 | 第55-56页 |
| 4.4.2 气液两相流流型辨识动态实验 | 第56-59页 |
| 4.4.3 分析与比较 | 第59-60页 |
| 4.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 第五章 基于CCERT系统的气液两相流空隙率测量 | 第61-75页 |
| 5.1 引言 | 第62-63页 |
| 5.2 基于CCERT系统的气液两相流空隙率测量模型 | 第63-66页 |
| 5.2.1 基于岭回归的气液两相流空隙率测量模型 | 第64页 |
| 5.2.2 基于偏最小二乘回归的气液两相流空隙率测量模型 | 第64-66页 |
| 5.3 气液两相流空隙率测量实验 | 第66-73页 |
| 5.3.1 静态实验结果 | 第67-70页 |
| 5.3.2 动态实验结果 | 第70-73页 |
| 5.4 本章小结 | 第73-75页 |
| 第六章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 致谢 | 第83-85页 |
| 个人简历 | 第85-87页 |
| 攻读硕士学位期间所取得的科研成果 | 第87页 |
