根据反射光的相位移动实现激光测距
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-11页 |
| 1.1.1 激光 | 第9页 |
| 1.1.2 激光测距及其优点 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外对激光测距技术进行的研究 | 第11-14页 |
| 1.2.1 国外概况 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内概况 | 第12-14页 |
| 1.3 激光测距技术原理及具体方法 | 第14-19页 |
| 1.3.1 原理概述 | 第14-15页 |
| 1.3.2 相位法激光测距 | 第15页 |
| 1.3.3 干涉法激光测距 | 第15-16页 |
| 1.3.4 三角法激光测距 | 第16-17页 |
| 1.3.5 脉冲法激光测距 | 第17-18页 |
| 1.3.6 四种激光测距方式的比较 | 第18-19页 |
| 1.4 本课题来源以及主要研究内容 | 第19-21页 |
| 第2章 相位法激光测距原理及系统方案 | 第21-30页 |
| 2.1 相位法激光测距原理综述 | 第21-24页 |
| 2.1.1 基本原理 | 第21-22页 |
| 2.1.2 相位法激光测距时信号频率的选取 | 第22-24页 |
| 2.2 测距系统整体设计方案 | 第24-27页 |
| 2.2.1 测距系统整体设计光路模拟图 | 第24页 |
| 2.2.2 激光光源与信号调制 | 第24-27页 |
| 2.2.3 回波接收与相位差检测 | 第27页 |
| 2.3 锁相技术基本理论 | 第27-29页 |
| 2.3.1 锁相放大器简介 | 第27-29页 |
| 2.3.2 锁相技术的在本课题中的应用 | 第29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第3章 光电探测器的研究与设计 | 第30-44页 |
| 3.1 光电探测器的研究方案 | 第30-34页 |
| 3.1.1 光电检测传感器的选择 | 第30-31页 |
| 3.1.2 APD的性能分析 | 第31-33页 |
| 3.1.3 光电探测器的整体设计方案 | 第33-34页 |
| 3.2 光电探测器电路设计 | 第34-38页 |
| 3.2.1 APD电压偏置电路设计 | 第34-36页 |
| 3.2.2 APD信号放大电路设计 | 第36-38页 |
| 3.3 电路的PCB设计 | 第38-43页 |
| 3.3.1 PCB简介 | 第38-39页 |
| 3.3.2 元器件及芯片的封装 | 第39-41页 |
| 3.3.3 电路PCB设计过程及注意问题 | 第41-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 根据反射光的相位移动实现激光测距 | 第44-58页 |
| 4.1 测距系统光路搭建与调整 | 第44-47页 |
| 4.1.1 系统实物图及各部分功能简介 | 第44-46页 |
| 4.1.2 一些参数的确定 | 第46-47页 |
| 4.2 基于PIN光电探测器的测量结果分析 | 第47-48页 |
| 4.2.1 通过示波器来检测相位差的变化 | 第47-48页 |
| 4.2.2 通过锁相放大器直接读取相位差的变化 | 第48页 |
| 4.2.3 结果分析 | 第48页 |
| 4.3 基于自制光电探测器的测量结果分析 | 第48-53页 |
| 4.3.1 未进行PCB版设计的测试板测量结果 | 第48-50页 |
| 4.3.2 进行PCB设计后的探测器成品测量结果 | 第50-53页 |
| 4.3.3 结果分析 | 第53页 |
| 4.4 测距过程及结果分析 | 第53-57页 |
| 4.4.1 测距过程及数据分析 | 第53-56页 |
| 4.4.2 测量结果不确定度分析 | 第56-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 结论 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-62页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
