印刷电路板BGA器件缺陷的X射线检测与特征识别
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-17页 |
| ·课题的背景及意义 | 第10-11页 |
| ·X射线检测技术概况 | 第11-13页 |
| ·X射线检测技术发展状况 | 第11-12页 |
| ·X射线检测技术存在的问题 | 第12-13页 |
| ·BGA焊点缺陷图像处理和识别技术发展现状 | 第13-16页 |
| ·论文内容安排 | 第16-17页 |
| 2 X射线检测理论与成像系统 | 第17-27页 |
| ·X射线检测理论 | 第17-20页 |
| ·X射线的特点及产生 | 第17-19页 |
| ·X射线检测原理 | 第19-20页 |
| ·X射线实时成像系统 | 第20-26页 |
| ·BGA焊点X射线实时成像系统的组成 | 第21-22页 |
| ·X射线实时成像系统性能分析 | 第22-26页 |
| ·X射线实时成像系统工作特点 | 第26页 |
| ·本章小节 | 第26-27页 |
| 3 BGA焊点射线图像的预处理技术 | 第27-45页 |
| ·X射线检测图像的特点 | 第27-28页 |
| ·X射线检图像的降噪技术 | 第28-33页 |
| ·射线图像噪声的来源分析 | 第28-29页 |
| ·传统降噪方法 | 第29-32页 |
| ·改进帧积分叠加算法 | 第32-33页 |
| ·射线图像灰度拉伸 | 第33-38页 |
| ·线性灰度变换 | 第34-35页 |
| ·非线性灰度变换 | 第35页 |
| ·直方图均衡化 | 第35-38页 |
| ·射线焊点图像的分割方法 | 第38-44页 |
| ·分割方法分类与概述 | 第38-40页 |
| ·基于幅度的阈值分割方法 | 第40-41页 |
| ·基于区域的阈值分割方法 | 第41-43页 |
| ·自适应阈值分割方法 | 第43-44页 |
| ·本章小节 | 第44-45页 |
| 4 图像缺陷特征提取技术 | 第45-56页 |
| ·典型焊点缺陷的分类 | 第45-47页 |
| ·焊点多连通域标记技术 | 第47-49页 |
| ·缺陷特征选择与识别 | 第49-54页 |
| ·特征选择依据和判断 | 第49-51页 |
| ·形状特征描述方法 | 第51-52页 |
| ·焊点缺陷特征选择 | 第52-54页 |
| ·参数提取实验 | 第54-55页 |
| ·本章小节 | 第55-56页 |
| 5 基于统计识别方法的焊点图像识别技术 | 第56-67页 |
| ·统计模式识别概述 | 第57-58页 |
| ·决策理论方法 | 第58-62页 |
| ·线性判别函数 | 第58-60页 |
| ·最小距离分类器 | 第60-61页 |
| ·最近邻域分类法 | 第61-62页 |
| ·非线性判别函数 | 第62页 |
| ·决策判别网络结构设计 | 第62-66页 |
| ·特征向量的选择 | 第62-63页 |
| ·判决过程设计 | 第63页 |
| ·构造分类器 | 第63-64页 |
| ·实验结果 | 第64-66页 |
| ·本章小节 | 第66-67页 |
| 6 结束语 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-73页 |
| 攻读硕士学位期间撰写的论文及科研成果 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
