| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 引言 | 第9-11页 |
| 1.2 近程毫米波成像技术国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 主动成像系统 | 第12-13页 |
| 1.2.2 半主动成像系统 | 第13-14页 |
| 1.2.3 被动毫米波成像系统 | 第14页 |
| 1.3 图像复原与近场毫米波成像校准技术 | 第14-16页 |
| 1.4 课题的来源 | 第16-17页 |
| 1.5 本文的主要工作及章节安排 | 第17-19页 |
| 第2章 毫米波成像基本原理 | 第19-36页 |
| 2.1 黑体理论 | 第19-23页 |
| 2.1.1 黑体热辐射理论 | 第19-21页 |
| 2.1.2 功率-温度的对应关系 | 第21-23页 |
| 2.2 毫米波特性分析 | 第23-24页 |
| 2.2.1 毫米波与大气的相互作用 | 第23页 |
| 2.2.2 毫米波与红外的辐射特性对比 | 第23-24页 |
| 2.3 目标及场景的毫米波辐射场 | 第24-27页 |
| 2.3.1 基本概念 | 第24-25页 |
| 2.3.2 无源毫米波成像机理 | 第25-26页 |
| 2.3.3 成像有限分辨率特性 | 第26-27页 |
| 2.4 成像的基本途径 | 第27-34页 |
| 2.5 典型物质的毫米波辐射特性 | 第34-35页 |
| 2.6 本章小结 | 第35-36页 |
| 第3章 点扩散函数的分析与估计 | 第36-60页 |
| 3.1 PSF 估计概述 | 第36-38页 |
| 3.1.1 PSF 估计过程 | 第36页 |
| 3.1.2 成像系统 PSF 空变数学模型 | 第36-38页 |
| 3.2 系统准光路的确定 | 第38-43页 |
| 3.2.1 椭球方程的计算 | 第38-40页 |
| 3.2.2 视场与馈源排布范围 | 第40页 |
| 3.2.3 采样与馈源间距 | 第40-43页 |
| 3.3 从衍射受限角度分析点扩散函数 | 第43-48页 |
| 3.3.1 基本概念 | 第43-45页 |
| 3.3.2 wiener 滤波原理估计点扩散函数 | 第45-48页 |
| 3.4 近场毫米波成像系统 PSF 求解过程 | 第48-59页 |
| 3.4.1 空间分辨率 | 第49页 |
| 3.4.2 椭球面的仿真 | 第49-54页 |
| 3.4.3 点扩散函数 PSF 的去空变处理 | 第54-59页 |
| 3.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第4章 内外校准方法的研究 | 第60-67页 |
| 4.1 毫米波辐射计的发展 | 第60-61页 |
| 4.2 毫米波辐射计校准的研究现状 | 第61页 |
| 4.3 毫米波辐射计的原理和校准方法 | 第61-65页 |
| 4.3.1 毫米波辐射测量的一些基本概念 | 第61-62页 |
| 4.3.2 毫米波辐射计的工作原理 | 第62-63页 |
| 4.3.3 辐射计的设计 | 第63-65页 |
| 4.4 辐射计阵列内外两种校准方法的研究 | 第65-66页 |
| 4.4.1 内校准 | 第65-66页 |
| 4.4.2 外校准 | 第66页 |
| 4.5 本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 实测数据验证分析 | 第67-74页 |
| 5.1 内校准的实现 | 第67-69页 |
| 5.2 单一背景图像对点扩散函数加权及内外校准方法的验证 | 第69-72页 |
| 5.3 实测数据校准的验证 | 第72-73页 |
| 5.4 本章小结 | 第73-74页 |
| 结论 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-81页 |
| 致谢 | 第81页 |