| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 1 绪论 | 第11-22页 |
| 1.1 课题背景 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-20页 |
| 1.2.1 几种主流超分辨显微方法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 受激辐射损耗显微术的发展 | 第13-19页 |
| 1.2.3 受激辐射损耗显微术的国内研究现状 | 第19-20页 |
| 1.3 本课题的研究内容 | 第20页 |
| 1.4 本课题的研究意义 | 第20-21页 |
| 1.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 2 高速受激辐射损耗超分辨显微成像原理 | 第22-30页 |
| 2.1 受激辐射损耗显微术(STED) | 第22-28页 |
| 2.1.1 基本原理 | 第22-23页 |
| 2.1.2 关键技术 | 第23-28页 |
| 2.2 扫描振镜在高速显微成像中的应用 | 第28-29页 |
| 2.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 3 高速受激辐射损耗显微成像系统 | 第30-39页 |
| 3.1 系统构架 | 第30-34页 |
| 3.1.1 系统结构图及软硬件参数 | 第30-32页 |
| 3.1.2 系统搭建 | 第32-34页 |
| 3.2 实验及结果分析 | 第34-38页 |
| 3.2.1 金纳米颗粒测试实验 | 第34-35页 |
| 3.2.2 荧光纳米颗粒测试实验 | 第35-37页 |
| 3.2.3 生物样品测试实验 | 第37-38页 |
| 3.3 本章小结 | 第38-39页 |
| 4 系统性能优化------光斑整形 | 第39-51页 |
| 4.1 损耗光斑质量对于STED显微效果的影响 | 第39-40页 |
| 4.2 矢量光束操控的基本理论 | 第40-41页 |
| 4.3 光斑整形提升STED系统的三维分辨效果 | 第41-50页 |
| 4.3.1 STED实现三维超分辨的主要瓶颈 | 第41-43页 |
| 4.3.2 基本原理 | 第43-46页 |
| 4.3.3 模拟结果及分析 | 第46-48页 |
| 4.3.4 像差的影响 | 第48-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 5. 系统性能优化------样品轴向漂移的检测及补偿 | 第51-65页 |
| 5.1 样品轴向漂移的影响 | 第51-52页 |
| 5.2 基于非对称入射的轴向补偿方法 | 第52-57页 |
| 5.2.1 基本原理 | 第52-54页 |
| 5.2.2 模拟结果及分析 | 第54-56页 |
| 5.2.3 实验结果及分析 | 第56-57页 |
| 5.3 基于双螺旋光束的轴向补偿方法 | 第57-63页 |
| 5.3.1 基本原理 | 第57-59页 |
| 5.3.2 模拟结果及分析 | 第59-60页 |
| 5.3.3 实验结果及分析 | 第60-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-65页 |
| 6 系统性能优化------荧光辐射差分显微术 | 第65-77页 |
| 6.1 荧光辐射差分显微术 | 第65-69页 |
| 6.1.1 基本原理 | 第65-67页 |
| 6.1.2 模拟结果及分析 | 第67-69页 |
| 6.2 多模态高速超分辨显微成像系统 | 第69-73页 |
| 6.2.1 系统结构 | 第69-71页 |
| 6.2.2 实验结果及分析 | 第71-73页 |
| 6.3 荧光辐射差分显微术的性能优化 | 第73-76页 |
| 6.4 本章小结 | 第76-77页 |
| 7 总结与展望 | 第77-80页 |
| 7.1 总结 | 第77-78页 |
| 7.2 展望 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-87页 |
| 作者简历 | 第87-88页 |