| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-29页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.2 纳流控 | 第12-13页 |
| 1.2.1 纳流控理论 | 第12页 |
| 1.2.2 纳流控芯片的应用 | 第12-13页 |
| 1.3 浓度极化 | 第13-16页 |
| 1.3.1 纳米通道的离子选择性 | 第13-14页 |
| 1.3.2 浓度极化 | 第14-16页 |
| 1.4 纳流控浓集器 | 第16-20页 |
| 1.4.1 纳流控浓集器的分类 | 第16-17页 |
| 1.4.2 纳流控浓集器应用 | 第17-20页 |
| 1.5 纳流控芯片加工技术 | 第20-24页 |
| 1.5.1 掩膜加工法 | 第20-22页 |
| 1.5.2 夹膜加工法 | 第22-23页 |
| 1.5.3 其他加工法 | 第23-24页 |
| 1.6 集成毛细管电泳芯片进样方法 | 第24-28页 |
| 1.6.1 十字通道简单进样 | 第25-26页 |
| 1.6.2 十字通道夹流进样 | 第26-27页 |
| 1.6.3 窄试样通道十字通道进样 | 第27-28页 |
| 1.7 课题的研究意义和思路 | 第28-29页 |
| 第2章 带负电荧光探针分子在毛细管微纳界面上的浓集 | 第29-46页 |
| 2.1 引言 | 第29页 |
| 2.2 仪器与试剂 | 第29-31页 |
| 2.2.1 实验仪器 | 第29-30页 |
| 2.2.2 实验试剂 | 第30页 |
| 2.2.3 溶液的配制 | 第30-31页 |
| 2.3 实验操作 | 第31-37页 |
| 2.3.1 对称的毛细管芯片的制作 | 第31-32页 |
| 2.3.2 局部刻蚀微纳界面的建立 | 第32-33页 |
| 2.3.3 纳米孔电阻的测量 | 第33-34页 |
| 2.3.4 CCD检测系统示意图 | 第34-35页 |
| 2.3.5 激光诱导荧光(LIF)检测系统 | 第35页 |
| 2.3.6 带负电荷荧光探针分子的浓度极化 | 第35-36页 |
| 2.3.7 电压对耗尽区的影响 | 第36页 |
| 2.3.8 LIF法检测带负电荷荧光探针分子的浓缩 | 第36-37页 |
| 2.4 实验结果与讨论 | 第37-45页 |
| 2.4.1 局部刻蚀纳米孔电阻的理论计算结果 | 第37-38页 |
| 2.4.2 带负电荷荧光探针分子的浓度极化 | 第38-39页 |
| 2.4.3 电压对耗尽区的影响 | 第39-40页 |
| 2.4.4 LIF法检测带负电荷荧光探针分子的浓缩 | 第40-45页 |
| 2.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第3章 带正电荧光探针分子的狭缝进样及Ⅱ类浓集 | 第46-59页 |
| 3.1 引言 | 第46页 |
| 3.2 仪器与试剂 | 第46-48页 |
| 3.2.1 实验仪器 | 第46-47页 |
| 3.2.2 实验试剂 | 第47页 |
| 3.2.3 溶液的配制 | 第47-48页 |
| 3.3 实验操作 | 第48-51页 |
| 3.3.1 带有进样狭缝毛细管芯片的制作 | 第48-49页 |
| 3.3.2 带正电荷荧光探针分子的浓度极化 | 第49页 |
| 3.3.3 狭缝连续进样的考察 | 第49-50页 |
| 3.3.4 LIF法检测带正电荷荧光探针分子的浓缩 | 第50页 |
| 3.3.5 LIF法检测带正电荷和中性荧光探针分子混合溶液的浓缩 | 第50-51页 |
| 3.4 实验结果与讨论 | 第51-58页 |
| 3.4.1 CCD检测带正电荷荧光探针分子的浓度极化 | 第51页 |
| 3.4.2 狭缝连续进样的考察 | 第51-52页 |
| 3.4.3 LIF法检测带正电荷荧光探针分子的浓缩 | 第52-54页 |
| 3.4.4 切向电场对带正电荷荧光探针分子的浓度极化的影响 | 第54-55页 |
| 3.4.5 混合荧光探针分子的浓度极化 | 第55-58页 |
| 3.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第4章 结论与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
